Линия - фон - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Есть что вспомнить, да нечего детям рассказать... Законы Мерфи (еще...)

Линия - фон

Cтраница 2


Повторное сканирование продолжают до тех пор, пока по максимальной высоте пика над линией фона не находят максимума оптической плотности зоны. Однако для количественного анализа высота пика служит гораздо более точным параметром, который может быть использован для определения значительно меньших количеств вещества в зоне. Незначительное перекрывание зон на хроматограммах, не приводящее к изменению максимальной плотности в центре зоны, не влияет на высоту пика.  [16]

Ширина дифракционных линий исследуемого материала и эталона оценивалась как площадь, ограниченная данной кривой и линией фона, поделенная на высоту.  [17]

Для количественных измерений необходимо определять интегральную интенсивность линий, пропорциональную площади, заключенной между дифрактометрической кривой и линией фона.  [18]

После фотообработки пластинки и измерения почернений линий рубидия 7800 23, цезия 8521 1 А и близлежащего к этим линиям фона спектра строят градуировочные графики и производят определения согласно методу трех эталонов, описанному на стр.  [19]

Известно, что чувствительность спектрального определения в значительной степени зависит от отношения интенсивности соответствующей линии в спектре к интенсивности соседнего с линией фона. При работе в видимой области спектра, где лежат наиболее чувствительные линии большинства щелочных, щелочноземельных, а также редкоземельных металлов на ре -, зультат анализа оказывает влияние наличие полос циана и молекулярного углерода. Кроме того, определение микропримесей во всех случаях обычного анализа в большой степени зависит от чистоты применяемых электродов. В связи с этим представляет интерес отыскание таких способов электрического разряда, при которых вещество электрода по возможности не давало бы соответствующего фона ( или линии) в спектре.  [20]

Восстановление гидроокиси марганца ( IV) в кислой среде описывается поляризационными кривыми близкой к симметричной форме с резким подъемом и спадом тока практически до линии фона.  [21]

Неучет влияния химической связи в обычных структурных исследованиях практически не отражается на результатах, так как занижение интенсивности рассеяния при малых углах компенсируется соответствующим проведением линии фона электронограмм в ходе структурного анализа.  [22]

23 Зависимость глубины слоя /, исследуемого методом скользящего рентгеновского пучка, от угла его наклона а для разных плоскостей в, монокристалла Мо ( излучение Со Ка.| Изменение полуширины рентгеновской интерференционной линии ( 310 на поверхности ( 2 и в объеме ( 1 монокристалла Мо при е 3 92 %.| Изменение полуширины рентгеновской интерференционной линии ( 310 /, характеризующей степень дефектности монокристалла Мо, на различной глубине от поверхности d при степенях деформации е 0 % 1. 0 72 % ( 2 и 3 92 % ( 3. [23]

Расчет / проводился по формуле / 2 / 3 Scpllm где 5ср - площадь, заключенная между экспериментальной кривой распределения интенсивности в рентгеновской интерференционной линии и линией фона, определенная как среднее арифметическое из нескольких измерений; /; - максимальная высота рентгеновской линии.  [24]

Во второй главе обсуждается структура искровых масс-спектров, дается интерпретация отдельных групп линий, регистрируемых фотопластинкой, рассматриваются причины наложений на аналитические линии спектра масс исследуемых веществ многозарядных образований и линий углеводородного фона.  [25]

26 Колебательные полосы поглощения в ИК-спектрах пиридина ( П и 2 6-диметилпиридина ( ДМП. адсорбированных в виде ионов на бренстедовских и. лъюисовских ( Л кислотных центрах. [26]

В работах [11, 18, 30] метод ИК-спектроскопии использовали для количественных измерений и было высказано предположение, что интегральные интенсивности полос не зависят от природы катиона, степени покрытия поверхности молекулами основного характера и силы кислотных центров, а линия фона в спектрах должна носить воспроизводимый характер.  [27]

Так, в работе J32J Мак-Лин и де Боер, исследуя спектры 1-п-прогшлнафта - лина, изменяя концентрацию стабильных свободных радикалов в широких пределах, обнаружили уширение спектральных линий ЯМР Н и в пределе полное слияние некоторых сигналов с линий фона.  [28]

Указанная цифра относится к интегральному по времени способу фиксации спектра ( на фотопленке или линейку приемников с зарядовой связью - ПЗС) и может быть улучшена по крайней мере на порядок величины за счет вычитания в процессе обработки экстраполированных значений уровня континуального излучения вблизи регистрируемой спектральной линии, а также путем отсечки ( временной дискриминации) регистрируемого сигнала на линии фона, максимум которого запаздывает по отношению к максимуму высвечивания линии нейтральных атомов на величину tm - А пр, где Д / пр - характерное время каскадной ионизации паровых ореолов частиц аэрозоля.  [29]

30 Зависимость величины сдвига максимума, обусловленного прперечны - ми оптическими фононами, в спектрах комбинационного рассеяния от мощности ла - зерного излучения W ( Т. Комия и др.. [30]



Страницы:      1    2    3    4