Нулевая слоевая линия

Cтраница 1

Нулевая слоевая линия необходима при любом проектировании; структурные амплитуды F ( hkO) являются основными определяющими членами суммы. Отражения остальных слоевых линий участвуют или исчезают в зависимости от величины пояса. В общем случае формулы имеют довольно сложный вид. [1]

Пересечение дифракционных конусов с цилиндрической пленкой. п - номер слоевой линии.| Рентгенограмма вращения ( фото. [2]

Нулевую слоевую линию принимают за начало отсчета других линий. Она проходит через первичное пятно ( рис. 3.25) и делит рентгенограмму на две симметричные части: верхнюю и нижнюю. Слоевые линии располагаются симметрично по обе стороны от нулевой. [3]

Развертка нулевой слоевой линии может привести к ошибке вследствие дополнительных погасаний, вызванных присутствием плоскости скользящего отражения. [4]

Приспособление для индицирования ненулевых слоевых линий. а - прозрачный круг со значениями. j / j. б - тот же круг с наклеенным на него бумажным сечением сферы отражения. [5]

При индицировании нулевой слоевой линии этот круг можно применить так же, как и картонный. [6]

Каждая рентгенограмма нулевой слоевой линии содержит две оси обратной решетки. Любые две из трех возможных рентгенограмм нулевых линий будут иметь общую ось, которая идентична на обеих рентгенограммах как по положениям пятен, так и по их относительным ин-тенсивностям. [7]

По вайсенберговской развертке нулевой слоевой линии выбирают характерное для исследуемого кристалла пятно средней интенсивности. [8]

Отраженные лучи для нулевой слоевой линии проходят через всю пластину. Однако для ненулевых слоевых линий они проходят через меньшую толщу кристалла, при этом чем больше номер слоевой линии, тем меньше ослабляются дифракционные лучи. Эффект будет более заметным для сильно поглощающих соединений, и поэтому введение поправок на поглощение важнее для соединений, содержащих металлы, чем для органических соединений. [9]

Схемы, иллюстрирующие эмпирический метод юстировки с помощью рентгенограмм качания. [10]

Эти линии симметричны относительно нулевой слоевой линии. Позже будет дано объяснение, каким образом возникает такая дифракционная картина. [11]

Связь между направлениями первичного и дифракционного лучей и расстоянием nd в случае равнонаклонной схемы. [12]

Как и в случае нулевой слоевой линии, 2 Сер, а Аг Сф0; радиальным узловым рядам отвечают наклонные прямые; расстояние между ними соответствует углам между радиальными рядами. Единственное отличие заключается в том, что шкала значений яЯ ], определяемых по координатам х ( углам т), становится несколько иной и зависит от номера слоевой линии. [13]

Различие в дифракции от неортогональной ( а и ортогональной ( б решеток. [14]

Например, на развертках нулевой слоевой линии, полученных при вращении вокруг оси а, индекс h равен нулю. [15]

Страницы: 1 2 3 4 5