Cтраница 3
Общая гформула ( 5а) непосредственно используется в методе порошка и при обработке интенсивности пятен нулевой слоевой линии рентгенограмм вращения. В остальных случаях метода вращения и его разновидностей определение углов Ф является затруднительным и предпочтительнее выразить 2& через углы ( л, v и т, легко определяемые для каждого отражения ( см. рис. 4, а также том I, стр. [31]
О - ж показано, как следует повернуть кристалл по дугам, чтобы его отъюстировать по нулевой слоевой линии. [32]
![]() |
Возникновение слоевых линий при дифракции от вращающегося кристалла. [33] |
Измерив на пленке вы-я 0 соту h, на которой находится данная слоевая линия по отношению к нулевой слоевой линии, и зная радиус камеры, можно получить величину параметра а. Обычно используют более высокие слоевые линии и измеряют расстояние 2h между двумя симметричными слоевыми линиями выше и ниже экватора. [34]
Следует помнить, что до тех пор, пока не получен совместный набор осей по трем рентгенограммам нулевых слоевых линий, обозначения осей и выбор их знака могут быть достаточно произвольными, хотя он обычно и удо-влетроряет общепринятым условиям. [35]
![]() |
Проекции в цилиндрических координатах. осевая о ( г, 1 з - вдоль оси z. лучевая ст ( t, z - вдоль радиусов. циркулярная о ( г, z - вдоль окружностей. одномерная а ( г - радиальное распределение. [36] |
Осевая проекция вдоль оси z на плоскость z О согласно ( 27) может быть подсчитана из нулевой слоевой линии. [37]
После этого установочные углы ф и т находятся с помощью вспомогательного круга так же, как в случае нулевой слоевой линии. [38]
Сочетание этой плоскости, имеющейся на рентгенограмме любой слоевой линии, с горизонтальной трансляцией, равной гт, присущей нулевой слоевой линии, приводит к возникновению на последней простой горизонтальной плоскости отражения с косым отражением. [39]
![]() |
Расстояние между слоевыми линиями рентгенограммы. [40] |
Если первичный пучок направлен перпендикулярно оси вращения ( обычный в практике случай), положительные и отрицательные слоевые линии располагаются симметрично относительно нулевой слоевой линии. [41]
При работе по второй схеме коллиматор и счетчик остаются в экваториальной плоскости и, следовательно, счетчик в принципе фиксирует лишь лучи нулевой слоевой линии. Однако - наклон самого кристалла позволяет совместить с осью вращения последовательно любое кристаллографическое направление [ tnnp ], а следовательно, получить отражения нулевых слоевых линий при всевозможных ориента-циях кристалла. [42]
На рис. 23 показаны дифракционные лучи в виде конусов, образующих острые углы с вертикалью и пересекающих пленку на высоте h от нулевой слоевой линии. [43]
Из приведенных формул очевидно, что проще всего обстоит дело сл расчетом LP в случае метода порошка, полихроматического метода и в случае нулевой слоевой линии метода вращения. Достаточно, следовательно, раз навсегда задать / Я / ( &) или LP / ( sinft) в виде таблицы или кривой. Определив углы ft ( или значения sin ft) для всех отражений ( дебаеграммы, лауэграммы, нулевой слоевой линии рентгенограммы вращения или вейсенбергограммы нулевого слоя), легко найти значения LP путем интерполяции табличных данных или по кривой. [44]
![]() |
Рентгенограмма вращения вокруг оси Z кристалла соли Жерара транс - Pt ( NH3 2C14. ЯСи.| Рентгенограмма вращения вокруг оси X кристалла соли Жерара транс - Pi ( NH3 2C14. XCu. [45] |