Нулевая слоевая линия

Cтраница 4

На рис. 210 показаны интерференционные кривые, проходящие через пятна рентгенограммы вращения вокруг оси Z -, около каждой кривой указано значение A L Пятна нулевой слоевой линии, отмеченные крестиками, являются р-пятнами. Это доказывается их расположением и интенсивностями. [46]

Кратки и Кребс [22], а также Гендершот [ 193 показали, что ошибку юстировки по каждой из дуг головки можно вычислить исходя из формы нулевой слоевой линии на рентгенограмме качания. [47]

Набор структурных факторов, в которых один из индексов - постоянная величина, относится к одной слоевой линии; структурные факторы F0 ( hkQ) 2 или F0 ( hQl) 2 относятся к нулевой слоевой линии. [48]

Набор структурных факторов, в которых один из индексов - постоянная величина, относится к одной слоевой линии; структурные факторы F0 ( hkO) 2 или F0 ( Ш) 2 относятся к нулевой слоевой линии. [49]

Таким образом, распределение F0 ( XY) в нулевой плоскости является двумерной трансформантой Фурье функции р ( ху), описывающей плотность рассеивающей материи в сечении трехмерного столбчатого тела ( рис. 74 а), и при дифракции на столбчатом теле будет наблюдаться только нулевая слоевая линия с некоторым распределением интенсивности в ней. [50]

Зависимость периода. [51]

Из приведенных наиболее характерных рентгенограмм J3 - и у-модифи-каций ( рис. 1 и 3) ( термические условия получения приведены в таблице) видно, что рефлексы, обусловленные отражением от плоскостей, связанных вандерваальсовым взаимодействием ( 020), не лежат, как обычно, на нулевой слоевой линии. [52]

Рентгенгониометрический метод Де-Ионга - Бумена ( метод фотографирования обратной решетки. а - схема прибора. б - типичная рентгенограмма ( кфорограмма. [53]

Каждое пятно пленки характеризуется двумя его координатами. При развертке нулевой слоевой линии угол т есть просто угол 2Ф между первичным и отраженным лучом. [54]

Высокотемпературная рентгеновская камера для съемки монокристаллов РКВТ-400 представляет собой модернизацию рентгеновской камеры вращения типа РКВ-86А, приспособленную для исследований монокристаллов и поликристаллических веществ в температурном интервале от 20 до 400 С. Она обеспечивает получение нулевых слоевых линий рентгенограмм вращения и качаний монокристалла и дебаеграмм поликристаллов. Рентгеносъемка ] проводится на воздухе на фотопленку, помещенную в цилиндрическую кассету с расчетным диаметром 114 59 мм. Кристалл, установленный на гониометрической головке, нагревается е помощью термостатирующего устройства, обеспечивающего вдоль оси камеры постоянную температуру. Кассета с пленкой крепится вне термостата, что позволяет производить замену пленки без нарушения теплового режима образца. Измерение температуры производится термопарой хромель-капель, а ее стабилизация достигается с помощью специальной электрической схемы, обеспечивающей точность не хуже - ЬЮ. [55]

После поворота на 180 вокруг оси вращения она снова образует тот же угол с первичным пучком, но будет иметь противоположный наклон - луч пойдет в нижнюю половину рентгенограммы. Вместо одного пятна на нулевой слоевой линии теперь будут два симметрично расположенных пятна на - f - n - ной и - n - ной линиях. Всего данная серия плоскостей создает четыре пятна. [56]

Рентгенограмма Вейсенберга нулевой слоевой линии при вращении вокруг оси Z кристалла [ Р1 ( МНз 5С1 ] С1з - Н2О ( пентаммин Чугаева. ЯСи. [57]

На рис. 230 изображена вейсенбергограмма нулевой слоевой линии, снятая с кристалла [ Pt ( NH3) 5Cl ] Cl3 - H2O при вращении его вокруг оси Z. По гониометрическим данным этот кристалл принадлежит к дитригональ-но-пирамидальному виду симметрии тригональной сингонии. На рентгенограмме отчетливо видны косые плоскости симметрии. Они отмечены буквами А и В. Таким образом, нулевая узловая сетка обратной решетки имеет шесть линий симметрии под углами в 30 друг к другу. Это исклк чает дифракционный класс С 3 и подтверждает до известной степени гониометрические данные. [58]

Действие винтовых осей вызывает закономерное погасание отражений.| Замена атомной решетки на молекулярную влияет лишь на интенсивность отражений. [59]

Есть способ съемки, при котором все слоевые линии, за исключением одной, могут быть отгорожены ширмой, и пятна от них на фотопленку не попадают. Камера устроена таким образом, что нулевая слоевая линия рентгенограммы вращения разворачивается на всю плоскость пленки. Для этой цели в камере не только вращается кристалл, но движется или вращается пленка. [60]

Страницы: 1 2 3 4 5