Нулевая слоевая линия

Cтраница 5

Пятна, расположенные на верхней и нижней ветвях одной зигзагообразной кривой на равных расстояниях от средней линии, имеют, одинаковые индексы. Зигзагообразная кривая эквивалентна, следовательно, ломаной линии рентгенограммы нулевой слоевой линии, на которой располагались пятна с одинаковыми индексами. Однако плоскости симметрии, эквивалентной горизонтальной плоскости симметрии рентгенограммы нулевой слоевой линии, связывающей пятна hkQ и hkQ, на р ентгенограм-ме и-ного слоя в общем случае не имеется. [61]

Это и есть закон Брэгга, утверждающий, что отражение рентгеновских лучей происходит при выполнении данных геометрических условий расположения кристалла по отношению к пучку рентгеновских лучей. Если теперь рассмотреть любую рентгенограмму качания, то можно видеть, что нулевая слоевая линия возникает при отражении падающего рентгеновского пучка от системы плоскостей, параллельных оси вращения кристалла. На рис. 22 представлена схема отражения рентгеновского луча от одной из систем таких кристаллических плоскостей в случае, если ось вращения перпендикулярна плоскости рисунка. [62]

Разрез вращающейся Обратной решетки по плоскости x z, когда эта плоскость совпадает с плоскостью большого круга сферы Эвальда.| Геометрия дифракционной картины для одного пятна первой слоевой линии в цилиндрической камере вращения. [63]

Координатная сетка в n - ой плоскости обратной решетки будет такой же, как и в нулевой. Индицирование пятен n - ой слоевой линии производится так же, как и нулевой слоевой линии: раствором циркуля, равным Япр, подбирают из точки оси вращения В ( рис. 3.28) соответствующий узел. Координаты этого узла определяют индексы соответствующего интерференционного пятна. [64]

Затем проводится анализ полученных рентгенограмм качания. На рентгенограмме качания рефлексы будут располагаться на параллельных линиях, одна из которых ( нулевая слоевая линия) проходит через след первичного пучка. [65]

Камера представляет собой модификацию камеры типа РКУ и позволяет исследовать монокристаллы с использованием отражений нулевой слоевой линии рентгенограмм колебаний. В конструкции камеры предусмотрены возможность осуществления произвольной установки необходимого положения кристалла и интервала колебаний и возможность изменения положения кристалла во время съемки для получения нескольких снимков на одной пленке. [66]

Страницы: 1 2 3 4 5