Анализируемая линия

Cтраница 1

Схематическое представление линий в методе фотометрического интерполирования. [1]

Анализируемые линии ( линии примеси и основы) должны быть близко расположены, чтобы они одновременно были видны в поле зрения; при этом можно считать, что обе линии находятся в области одинаковых свойств фотографической пластинки. [2]

Вывод анализируемой линии на выходную щель 11 производится поворотом призм. Объектив выходного коллиматора, состоящий из линз 9 и 10, фокусирует спектр в плоскости выходной щели. Линза 9 неподвижна, линза 10 перемещается кулачковым механизмом при повороте призм и производит автоматическую фокусировку для различных длин волн. Свет, прошедший через выходную щель, фокусируется линзами 12 и 13 на фотокатод фотоэлемента 14 канала анализируемой линии. [3]

Оптическая схема фотоэлектрического стилометра ФЭС-1. [4]

Вывод анализируемой линии на выходную щель контролируется визуально. Для этого за выходной щелью устанавливают поворотное зеркало 15 и микроскоп 16, через который рассматривается спектр. Вращая диспергирующую систему, выводят нужную линию в центр выходной щели. Затем отводят поворотное зеркало в сторону и устанавливают ширину выходной щели. Этот неразложенный свет применяется в качестве внутреннего стандарта. Для возбуждения спектров применяется генератор с электронным управлением поджига разряда ГЭУ-1, обеспечивающий получение спектра значительной яркости со стабильным возбуждением. [5]

Например, пусть для анализируемой линии выбрана ступенька, которая ослабляет свет в три раза, и ей оказалась равной по почернению ступенька линий сравнения, которая ослабляет свет в пять раз. [6]

Поскольку фототек im пропорционален интенсивности 1ан анализируемой линии и спектральной чувствительности фотоэлемента 0 ( Кан) мы можем положить его равным 1ан klaflo ( Кан), где k - коэффициент пропорциональности. [7]

Если фон - невелик, а анализируемую линию трудно отделить от другой линии, принадлежащей определяемому элементу ( например, линии хрома 534, 58 нм и 534 83 нм), то их излучение можно направить на фотокатод одновременно. Входную щель, как правило, берут равной 0 3 мм, а выходную - 0 8 - 1 2 мм. Однако известны и случаи успешной работы с диффузными и широкими линиями, когда входную щель берут гораздо более широкой, а выходную, наоборот, в два-три раза уже, чем изображение аналитической линии. В этом случае измерительная щель как бы ползает по линии при незначительных смещениях спектра вследствие температурных изменений. Однако прием годится только в тех случаях, когда нет опасности наложения на выбранную линию посторонних линий и фон невелик и стабилен. [8]

Оптическая схема стилоскопа СЛ-12. [9]

В области спектра, в которой лежит анализируемая линия, всегда можно найти такую линию основы, интенсивность которой при данной концентрации будет равна интенсивности линии примеси. Точное равенство интенсивностей линии примеси с неизвестной концентрацией элемента и линии основы с известной концентрацией элемента является спектроскопическим признаком определенной концентрации данной примеси в сплаве. [10]

Пусть для анализа была выбрана вторая ступенька анализируемой линии, которая оказалась ярче, чем пятая ступенька линии сравнения, но слабее четвертой. Равенство почернений было бы в том случае, если в ослабителе имелась бы ступенька, которая ослабляет свет больше, чем четвертая, но меньше, чем пятая. [11]

По прошествии времени, выбранного для измерения анализируемой линии, фиксируемого счетчиком, движение фотоумножителя продолжается с нормальной скоростью до следующей выемки. Этот процесс продолжается до тех пор, пока фотоумножителем не будет пройден весь развертываемый спектр. [12]

Двумерное распределение показателей качества стали марки GS50. [13]

В количественном эмиссионно-спектральном анализе почернение Sz, измеряемое для анализируемой линии, соотносят с почернением линии основного металла Sg. При этом уменьшаются случайные колебания, вызываемые, например, такими факторами, как неправильное положение источника излучения. [14]

Блок-схема спектрофотометра с поочередным выводом анализируемых линий. [15]

Страницы: 1 2 3 4 5