Анализируемая линия

Cтраница 2

Вместо линии сравнения ( внутреннего стандарта) сравнение потока анализируемой линии осуществляется с потоком неразложенного излучения разряда. [16]

Селекторы 28 входят составными элементами в селекторный канал каждой анализируемой линии. [17]

Поэтому всегда можно в той области спектра, в которой лежит анализируемая линия, найти такую линию основы, которая при данной концентрации будет равна интенсивности линии примеси. Точное равенство интенсивности линии примеси и основы является спектроскопическим признаком определенной концентрации примеси в сплаве. Однако подобрать пары линий одинаковой интенсивности при различных концентрациях элемента не всегда возможно, поэтому прибегают к оценкам ярче или слабее. В этом случае обычно пользуются несколькими парами анализируемых линий и линий сравнения в разных областях спектра для уточнения результата анализа. Иногда для уточнения оценки одну линию примеси сравнивают с несколькими линиями основы. [18]

Зависимость коэффициента поглощения от длины волны, и взаимное расположение линий и краев поглощения. [19]

Такая линия должна быть расположена с коротковолновой стороны от границы поглощения анализируемой линии и возможно ближе к ней. [20]

Фотоумножитель линии сравнения ( основного элемента пробы) неподвижен, а фотоумножитель анализируемой линии перемещается по направляющим вдоль развертываемого спектра. Отличительной особенностью установки является наличие механизма, позволяющего автоматически устанавливать фотоумножитель анализируемой линии на заранее заданные анализируемые линии. Закладывая в перемещающий механизм программную линейку с нанесенными на нее с точностью 2 мк выемками, соответствующими положениям анализируемых линий, можно посредством сложного электромеханического устройства автоматически устанавливать фотоумножитель в требуемые рабочие положения. [21]

Дифрактометр ДРПМК-20 имеет четыре канала с малогабаритными сцинтилляционны-ми счетчиками СРС-7 для измерения интенсивности анализируемых линий и пятый канал для измерения интенсивности фона. [22]

Ср и / ан - фототоки, возникающие в умножителях при их облучении светом анализируемой линии и линии сравнения; R & - сопротивления ( одинаковые по величине), включенные в катодные цепи обоих умножителей. [23]

При больших значениях t величина А А, может уменьшаться до спектральной ширины тонкой структуры анализируемой линии, и, тем самым, сделать невозможным ее анализ. Так, например, для зеленой линии ртути 5460 А переналожение ее компонент происходит уже при толщине эталона равной, 4 мм. [24]

Рассмотрим совместно формулы (3.14) и (3.16) и отметим прежде всего, что амплитуды напряжения и тока в анализируемой линии являются периодическими функциями продольной координаты. [25]

Дополнительное возбуждение линии Ль за счет избирательного поглощения интенсивности линий Ла.| Зависимость интенсивности / от содержания мешающих элементов ( при разных соотношениях между а и. [26]

Край поглощения линии третьего элемента ( РЬ на рис. 84, а) находится с длинноволновой стороны от анализируемых линий. Интенсивность линии ниобия будет ослаблена свинцом несколько больше, чем у молибдена. [27]

Линии равных значений периода для твердых растворов в тройных системах [ 20. a - Fe-Cr-Si ( о, ц. к. фаза. б - Fe-Cr-V ( о. д. к. фаза, сечение при 700 С. [28]

Зная примерное соотношение фаз в стали и d / n для этих фаз, выбирают условия съемки ( излучение и анализируемые линии), обеспечивающие оптимальное сочетание точности и экспрессности анализа. [29]

Определение длины волны спектральной линии. [30]

Страницы: 1 2 3 4 5