Анализируемая линия

Cтраница 3

Для определения длины волны Кх неизвестной линии ( рис. 134) в спектре нормали выбирают две резкие линии так, чтобы анализируемая линия лежала между ними. Если линии выбраны до-1 статочно близко к анализируемой, то можно с хорошей точностью считать, что на протяжении узкого участка спектра, где лежат эти три линии, дисперсия не только дифракционного, но и призменного спектрографа остается постоянной. [31]

Определение длины волны Щью нормалей. [32]

Для определения длины волны Я, неизвестной линии ( рис. 129) в спектре нормали выбирают две резкие линии так, чтобы анализируемая линия лежала между ними. [33]

Зная эту величину и измерив интенсивность линии &2 в спектре анализируемых проб, можно рассчитать интенсивность мешающей линии klt которая накладывается на анализируемую линию, и таким образом легко ввести поправку ( разд. [34]

Тогда дальнейшее движение фотоумножителя происходит с замедленной скоростью, пока электронный щуп не вызовет остановки умножителя в момент, когда его щель окажется против анализируемой линии. [35]

Область спектра для определения хрома и вольфрама в сталях. [36]

Далее следует отождествить спектр, изображенный на планшете атласа, со спектром, наблюдаемым в окуляр прибора, и установить соотношения интен-сивностей в анализируемых линиях. [37]

Ясно, что для того чтобы найти связь между Вм и [ V [ для первой и второй линии в соответствии с уравнением (14.46) ], анализируемые линии должны различаться лишь порядком отражения, чтобы One были одинаковы. [38]

В простейшей установке, основанной на нулевом методе измерения [7], концентрация анализируемого элемента определяется из отношения каскадных напряжений для двух фотоумножителей, регистрирующих световые потоки анализируемой линии и линии сравнения. [39]

Результаты нашей работы показали, что известные до сих пор методы учета фона, основанные на вычислении среднего арифметического из двух отклонений стрелки гальванометра, полученных каким-либо способом справа и слева от анализируемой линии, являются довольно произвольными и не отражают действительной величины фона. [40]

Градуировочные графики для определения Си, Cd, Zn, Pb, Ag и Аи строят по методу трех эталонов в координатах lg R и lg с, где R - относительная интенсивность анализируемой линии по сравнению с фоном; с - концентрация исследуемых элементов. [41]

Первый метод ( с измерением ВК ( К)) чаще всего применяется в спектрально-аналитической практике и в том числе при использовании спектрометров с полихроматором - монохроматором с большим числом выходных щелей, установленных в местах расположения анализируемых линий. Метод же сканирования обычно используется в физических исследованиях как при измерении Ви ( /), так и при определении контура спектральных линий, причем в этом случае, как уже указывалось ( см. гл. [42]

Результат измерения может быть либо отсчитан по шкале потенциометра, либо автоматически записан на ленте пишущим устройством, связанным с ползунком потенциометра. Продолжительность регистрации одной анализируемой линии составляет от 10 до 20 сек. [43]

При таком методе работы очевидно, что вариации в условиях испарения пробы и вариации в условиях наблюдения спектра будут в далеко идущей степени действовать одинаково на обе сравниваемые линии и следовательно, не оказывать влияния на их относительную интенсивность. Измеряемая величина относительной интенсивности анализируемой линии и линии сравнения будет при этих условиях в основном функцией только концентрации анализируемого элемента в пробе и может быть привлечена в качестве меры этой последней. [44]

Фотометрирование аналитических линий проводят на микрофотометре. Из трех параллельных спектров находят среднюю плотность почернения анализируемых линий. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5