Анализируемая линия

Cтраница 4

Внешний вид спектропроектора ПС-18. [46]

Спектральные линии одного элемента могут перекрываться линиями других элементов. Поэтому при помощи атласа следует определить длину волны анализируемой линии и установить, каким элементам она может принадлежать. [47]

Точность и чувствительность молекулярного анализа. [48]

Кроме того, точность анализа значительно зависит от интенсивности анализируемых линий и особенно страдает от наличия помех со стороны близко расположенных линий других компонентов. Так, например, в низкокипящих фракциях можно точно определить содержание цикло-пентана по самой интенсивной его линии 889 см-1. В то же время определение моноалкилгомологов циклопентана в более высококипящих фракциях по аналогичной линии, как правило, невозможно вследствие наложения. В результате точность анализа этих нафтенов определяется сравнительно более слабыми линиями. [49]

Фотоумножитель линии сравнения ( основного элемента пробы) неподвижен, а фотоумножитель анализируемой линии перемещается по направляющим вдоль развертываемого спектра. Отличительной особенностью установки является наличие механизма, позволяющего автоматически устанавливать фотоумножитель анализируемой линии на заранее заданные анализируемые линии. Закладывая в перемещающий механизм программную линейку с нанесенными на нее с точностью 2 мк выемками, соответствующими положениям анализируемых линий, можно посредством сложного электромеханического устройства автоматически устанавливать фотоумножитель в требуемые рабочие положения. [50]

Концентрацию примеси определяют по заранее составленным спектроскопическим признакам - таблицам соотношения интенсивности анализируемой линии при определенных условиях анализа к интенсив-ностям ряда стандартов - линий сравнения. Чем больше набор этих линий, тем точнее интервал концентраций примеси, Метод фотометрического интерполирования ( рис. 47) Этот метод как частный случай предыдущего приема позволяет достичь несколько более точных результатов. [51]

Спектрограф сконструирован так, что позволяет одновременно фотографировать спектр и фотоэлектрически регистрировать интенсивность анализируемых линий. [52]

Выходные щели выделяют из спектра, расположенного по кругу Роуланда, аналитические линии, которые проектируются зеркалами на катоды соответствующих фотоэлементов. Для точного определения интенсивности спектральной линии необходимо выходные щели квантометра точно совместить с изображениями анализируемых линий. [54]

За положением линии относительно краев выходной щели наблюдают в микроскоп, для чего в ход лучей за выходной щелью вводится зеркальце. Диафрагма на входной щели ставит я так, что в поле зрения микроскопа вместе с анализируемой линией виден соседний участок спектра. Линия устанавливается в середину выходной щели. Диафрагма на входной щели ставится в новое положение, чтобы ограничить высоту анализируемой спектральной линии. [55]

На схеме рис. 256 изображены также электронно-лучевой индикатор и несколько реле. Электронно-лучевой индикатор позволяет по наклону осциллограммы, имеющей вид прямой линии, судить о правильности вывода анализируемой линии: чем больше наклон прямой линии, тем точнее установлена спектральная линия. [56]

Качественный масс-спектрометрический анализ основан на измерении массы ионов. Идентификация масс проводится по положению линии на фотопластинке, которое фиксируют, измеряя расстояние между линиями с известной массой и анализируемой линией. [57]

Таким образом, экспозиция продолжается до тех пор, пока на выходе канала для неразложенного света не будет достигнуто всегда одно и то же определенное напряжение. Поэтому отпадает необходимость в вычислении отношения напряжений на конденсаторах С, и Сг и прибор, измеряющий напряжение на выходе канала для анализируемой линии, может быть проградуирован предварительно по эталонам в концентрациях определяемого элемента. [58]

Градуировочные графики для определения Си, Cd, Zn, Pb, Ag и Аи строят по методу трех эталонов в координатах g R и lg с, где R - относительная интенсивность анализируемой линии по сравнению с фоном; с - - концентрация исследуемых элементов. [59]

Градуировочные графики для определения Си, Cd, Pb, Ag, Аи и Zn строят по методу трех эталонов в координатах lg R, lg с, где R - относительная - интенсивность анализируемой линии по сравнению с фоном, с - концентрация исследуемых элементов. [60]

Страницы: 1 2 3 4 5