Дифрагированный луч

Cтраница 2

Остановимся теперь на интенсивности дифрагированного луча Волны, направляющиеся в точку максимума, действуют в одной фазе. Если / - амплитуда волны, рассеиваемой одним центром, то суммарная амплитуда, идущая в направлении максимума, будет Л / У, а интенсивность - Л / 2 / 2 - Высота дифракционного максимума пропорциональна квадрату числа рассеивающих центров. Так как ширина максимума обратно пропорциональна Л, то площадь его ( интегральная интенсивность максимума) пропорциональна первой степени N. Если мы будем сравнивать между собой различные максимумы, то увидим, что отношение их высот ( или, что все равно, площадей) зависит от значения для этих направлений амплитуды / рассеяния одним центром. [16]

Наличие дифракции приводит к интерференции дифрагированного луча, прошедшего через дефектное место с лучом, прошедший через здоровое место. [17]

Измерения углов 26, образованных дифрагированными лучами с падающим на кристалл лучом, а также их интенснвностей можно производить как с помощью ионизационной камеры ( см. стр. Фотопленки, фиксирующие одновременно след многих дифракционных лучей, называются рентгенограммами. [18]

Измерения углов 26, образованных дифрагированными лучами с падающим на кристалл лучом, а также их интенсивностей можно производить как с помощью ионизационной камеры ( см. стр. Фотопленки, фиксирующие одновременно след многих дифракционных лучей, называются рентгенограммами. [19]

В результате интерференционного взаимодействия между дифрагированными лучами, зависящего от периода решетки, область когерентности определяется не шириной решетки, а ее периодом. [20]

Определяя на опыте углы 20, образуемые дифрагированными лучами в кристалле, можно найти ( если А, известно) межплоскостные расстояния, существующие в кристалле, и таким образом определить периоды повторяемости структуры в любом направлении. [21]

Определяя на опыте углы 29, образуемые дифрагированными лучами в кристалле, можно найти ( если А, известно) межплоскостные расстояния, существующие в кристалле, и таким образом определить периоды повторяемости структуры в любом направлении. [22]

Принцип устройства отражательной плоской решетки. Штрихи освещаются параллельным лучом, падающим под углом а к нормали решетки. Свет дифрагируется в направлении / 3. Разность хода между двумя волнами составляет BC-AD. Расстояние между двумя последовательными штрихами АВ а. Это расстояние связано с плотностью штрихов п соотношением п 1 / а. Нормаль к поверхности штриха образует угол в с нормалью к поверхности решетки. [23]

Когда параллельный луч падает на плоскую решетку под углом а, то для вычисления угла дифрагированного луча / 3 при данной монохроматической длине волны А используют уравнение решетки. Каждый штрих действует как узкое зеркало, переизлучающее свет. Многочисленные отраженные лучи интерферируют и образуют явление дифракции. [24]

Результатом решения этой системы уравнений является нахождение трех углов а, р и у, определяющих направление Дифрагированного луча. Таким образом, имеются четыре Уравнения для определения трех неизвестных. А это ознаачет, что для данной кристаллической решетки и определенной ее ориентации ( углы оо, Ро и уо) относительно падающего рентгеновского луча с определенной длиной волны - Я, дифракционного эффекта может не быть. Чтобы решить данную систему уравнений - а это одно и то же, что найти условия появления дифракционного эффекта - необходимо приравнять число неизвестных к числу определяющих их уравнений. Следовательно, одну из постоянных величин, входящих в эту систему уравнений, необходимо t - делать переменной. Такой величиной может быть либо длина волны падающего рентгеновского луча, либо один из трех углов Оо, Ро, Yo - В последнем случае непрерывное изменение одного из приведенных углов может быть достигнуто вращением кри - - сталлической решетки вокруг одного из трех определяющих элементарную ячейку направлений. [25]

Дифракция имеет место каждый раз, когда сфера Эвальда пересекает один из стержней обратной решетки; при этом дифрагированный луч можно обозначить с помощью индексов Миллера ( hk) того стержня, который его порождает. [26]

Рентгенограмма вращения монокристалла, сфотографированная на цилиндрическую пленку. [27]

При этом меняется угол в, и в тот момент, когда выполняется уравнение ( 1), возникает дифрагированный луч, который фиксируется на рентгенограмме. [28]

Дифрагированный луч регистрируется на специальной фотопленке в виде рефлекса - темного пятнышка, положение которого на рентгенограмме соответствует направлению дифрагированного луча, а степень почернения - интенсивности. [29]

Геометрические принципы съемки лауэ-граммы на цилиндрическую пленку с осью, нормальной к первичному пучку рентгеновских лучей. [30]

Страницы: 1 2 3 4 5