Дифрагированный луч

Cтраница 3

На схеме РО - направление первичного пучка ( S0), CN - нормаль к отражающей плоскости, CY - дифрагированный луч ( S), Y - точка, в которой CY пересекает цилиндрическую пленку, давая пятно на лауэграмме. РХО - экваториальная плоскость, расположенная нормально к оси цилиндра. Проведем прямую YX, нормальную к РХО, и из точки X опустим перпендикуляр на СО, тогда XT и YT нормальны к СО. При этом угол / ОСУ 29, прямые YT, РО, CN и CY лежат в одной плоскости и Z XTY ср является углом между экваториальной плоскостью и плоскостью падения рентгеновских лучей. Направление CN целиком определяется углами G и ф, и если эти углы известны, то положения нормалей к отражающим плоскостям могут быть нанесены на стереографическую проекцию. [31]

Тогда при каких-то особых положениях, при особых углах, удовлетворяющих сразу трем уравнениям ( 4), возникает кратковременная вспышка - дифрагированный луч, оставляющий на рентгенограмме след в виде темного пятна. Этот метод не имеет того недостатка, которым обладает метод Лауэ. Поэтому он используется в рентгено структурном анализе гораздо шире. Метод Лауэ обычно используется только для определения симметрии кристалла или для ориентировки неограненного кристаллического осколка. [32]

Дифракционная картина, создаваемая атомной сеткой. [33]

Тогда при каких-то особых положениях, при особых углах, удовлетворяющих сразу трем уравнениям ( 4), возникает кратковременная вспышка - дифрагированный луч, оставляющий на рентгенограмме след в виде темного пятна. Этот метод не имеет того недостатка, которым обладает метод Лауэ. Поэтому он используется в рентгеноструктурном анализе гораздо шире. Метод Лауэ обычно используется только для определения симметрии кристалла или для ориентировки неограненного кристаллического осколка. [34]

При фотографической регистрации дифракционной картины разрешение фотопленки или фотопластинки обычно достаточно для того, чтобы можно было зарегистрировать направление каждого интересующего нас дифрагированного луча. При регистрации с помощью счетчиков детектор обычно регистрирует лишь конечный угловой интервал дифрагированных пучков от каждой точки образца. [35]

Схемы рассеяния электронов в зависимости от толщины объекта. [36]

Такие изменения контраста связаны с тем, что определенные участки объекта попадают в отражающее положение, при этом интенсивность луча нулевого максимума существенно уменьшается, а дифрагированный луч задерживается апертурной диафрагмой. На рис. 149 это схематически изображено для кристаллического объекта, состоящего из блоков, несколько разориентированных по отношению друг к другу. [37]

Боррманн показал, что при прохождении рентгеновского излучения сквозь кристаллическую пластинку излучение расщепляется на два потока, первый из которых параллелен падающему, а второй соответствует дифрагированному лучу. [38]

Общая схема измерения высоты трещины ( треугольник дифракции. / - опорный сигнал. 2 - дифрагированный. [39]

Диапазон измерений определяется как максимальная высота трещины, которая может быть измерена при фиксированном расстоянии между преобразователями, или как максимальное расстояние между преобразователями, при котором четко обнаруживается сигнал дифрагированного луча. Диапазон измерений определяется экспериментально с использованием образца с искусственной трещиной. [40]

Действительно, они имеют общее свойство, заключающееся в том, что устанавливаемые ими правила позволяют представить сложные конфигурации поля в виде суперпозиции стандартных полей, которые в случае геометрической теории дифракции описываются дифрагированными лучами, а в фейнмановских диаграммах - графиками. Заинтересованный читатель может найти сведения о некоторых применениях и разработках геометрической теории дифракции в книге под редакцией Хансена [28], указанной в литературе к гл. [41]

Это условие выполняется при падении монохроматического ненаправленного пучка рентгеновских лучей на ряд геометрически подобных параллельных плоскостей в кристалле под таким углом, что отраженные лучи от каждого слоя усиливают друг друга и в результате получается интенсивный дифрагированный луч. При других углах отражение от каждого слоя интерферирует с отражающимся лучом каждого другого слоя и любой полученный в результате луч обладает более слабой интенсивностью. [42]

Координаты и углы, определяющие положение интерференционного пятна на цилиндрической ( а и плоской ( б пленке. [43]

Введем теперь углы, определяющие геометрию дифракционной картины: 2Ф - угол дифракции, т - угол между начальным пучком и проекцией диафрагированного луча на плоскость, перпендикулярную оси текстуры, 8 - угол между плоскостями, одна из которых проходит через начальный пучок и ось текстуры, а другая через тот же пучок и дифрагированный луч. [44]

Вектор k заканчивается на произвольном узле обратной решетки. Дифрагированный луч образуется, если указанная сфера пересечет какой-либо другой узел обратной решетки. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5