Cтраница 1
Дифракционные лучи фиксируются или на плоской пленке, или на цилиндрической. В первом случае рентгенограмма представляет собой набор концентрических колец с различной шириной, интенсивностью и взаимным расположением. [2]
Дифракционные лучи hkl ъ hkl имеют одинаковые амплитуды и противоположные фазы. Поскольку / - F2, оба луча имеют одинаковую интенсивность. [3]
Дифракционные лучи hkl и Tiki имеют одинаковые амплитуды и противоположные фазы. Поскольку / - F 2, оба луча имеют одинаковую интенсивность. [4]
Дифракционные лучи hkl и hkl имеют одинаковые амплитуды и противоположные фазы. Поскольку I-F 2, оба луча имеют одинаковую интенсивность. В этом и заключается одно из двух положений, содержащихся в законе Фриделя о центросимметричности рентгеновской оптики. [5]
![]() |
К расчету фактора поглощения при съемке по методу фотографирования обратной решетки ( случай пластинчатого кристалла. [6] |
Все дифракционные лучи распространяются по образующим конуса постоянного раствора, определяемого конструкцией камеры. Правда, он несколько различен для рентгенограмм разных слоевых линий, так как благодаря изменению угла ц меняется путь луча первичного пучка в кристалле. [7]
Так как дифракционные лучи уходят по всем направлениям, лимитируемым лишь условием (22.11), то эта рябь присутствует и перед диафрагмой. [8]
Этому условию и удовлетворяют дифракционные лучи. [9]
![]() |
Возникновение слоевых линий при дифракции от вращающегося кристалла. [10] |
На рис. 23 показаны дифракционные лучи в виде конусов, образующих острые углы с вертикалью и пересекающих пленку на высоте h от нулевой слоевой линии. [11]
![]() |
Параметры элект - должен наблюдаться аналогич-ромагнитной волны. ный эффект Периоды повторя. [12] |
Этому условию и удовлетворяют дифракционные лучи. [13]
![]() |
К выводу закона Брэгга-Вульфа. [14] |
При дифракции от поликристаллического образца дифракционные лучи образуют серии вложенных друг в друга конусов с общей вершиной в центре образца. Учет преломления при прецизионном определении параметров решетки будет рассмотрен в соответствующем разделе. [15]