Дифракционные лучи
Cтраница 2
В настоящее время широкое применение нашли приборы, в которых дифракционные лучи фиксируются счетчиком элементарных частиц. При этом вращение кристалла производится скачками от одного дифракционного положения к другому с одновременным изменением позиции счетчика. Имеются трехкружные дифрактомет-ры, которые аналогичны камере вращения: кристалл вращается вокруг одной из своих кристаллографических осей, а счетчик перемещается вдоль выбранной слоевой линии. В современных четы-рехкружных дифрактометрах необходимость в предварительном совмещении кристаллографической оси с осью вращения отпадает. Путем поворота кристалла вокруг трех пересекающихся осей любое дифракционное направление выводят в экваториальную плоскость прибора, а счетчик смещают на это направление поворотом держателя счетчика вокруг вертикальной оси. [16]
 |
Зависимости углов ввода продольных и поперечных волн в стали от времени задержки для решетки с периодом d - 1 мм. в. [17] |
Период решетки следует выбирать так, чтобы во всем секторе сканирования отсутствовали побочные дифракционные лучи. Этому условию в секторе сканирования от - 90 до 90 удовлетворяет решетка с полуволновым периодом, однако изготовление такой решетки часто сопряжено с техническими трудностями. [18]
Однако основное направление развития техники рент-геноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц. Схема работы автоматического дифрактометра, сочлененного с двумя электронными вычислительными машинами, в общих чертах выглядит следующим образом. [19]
Однако основное направление развития техники рент-геноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц. [20]
Однако основное направление развития техники рент-геноструктурного анализа связано с автоматизацией приборов, регистрирующих дифракционные лучи с помощью счетчиков элементарных частиц. Схема работы автоматического дифрактометра, сочлененного с двумя электронными вычислительными машинами, в общих чертах выглядит следующим образом. [21]
От всех остальных кристалликов, ориентированных под теми же углами 9i к пачкам плоскостей с межплоскостным расстоянием di, возникнут дифракционные лучи, расположенные по образующим этого же дифракционного конуса. При линейных размерах кристалликов порядка 1 мкм ( 109 кристалликов в 1 мм3) отдельные дифракционные лучи ( образующие конуса) настолько близко располагаются друг к другу, что заполняют всю поверхность конуса, то есть поверхность конуса получается сплошной. [22]
Если кристалл поворачивать, то, подставляя по очереди в отражающее положение те или иные системы плоскостей, мы можем получить все дифракционные лучи, свойственные данному кристаллу. Я, удовлетворяющая за коиу Вульфа-Брэгга для тех углов 9, к-рые образуют системы плоскостей неподвижного кристалла с падающим лучом. Согласно уравнению Вульфа-Брэгга, дифракционные лучи возникают под строго определенными углами. Но это справедливо для бесконечного и идеального кристаллов. Расширение угла зависит также от наличия напряжений и неоднородности в объекте и от темн-ры. [23]
Если кристалл повора - у чивать, то, подставляя по очереди в отражающее положение те или иные системы плоскостей, мы можем получить все дифракционные лучи, свойственные данному кристаллу. Я, удовлетворяющая закону Вульфа-Брэгга для тех углов 6, к-рые образуют системы плоскостей неподвижного кристалла с падающим лучом. Согласно уравнению Вульфа-Брэгга, дифракционные лучи возникают под строго определенными углами. Но это справедливо для бесконечного и идеального кристаллов. Расширение угла зависит также от наличия напряжений и неоднородностей в объекте и от темп-ры. [24]
 |
Дифракционный эффект как отражение от атомных. [25] |
Среди хаотически расположенных кристалликов образца попадутся безусловно и такие, ориентации которых будут удовлетворять одновременно всем трем условиям Лауэ. Дифракционные лучи с разными тройками индексов будут созданы кристалликами, ориентированными различным образом. Этот способ получения дифракционной картины носит название метода порошка или метода Дебая - Шеррера. [26]
Геометрия дифракционного эффекта при съемке по методу порошка была уже рассмотрена во второй части ( стр. Дифракционные лучи расходятся от поликристаллического образца по образующим семейства конусов, общей осью которых является первичный пучок. [27]
 |
Съемка рентгенограммы по Методу fto - рошка ( а и общий вид порошковой рентгенограммы ( б. [28] |
В методе порошка применяют монохроматическое излучение. Дифракционные лучи фиксируются или на плоской пленке, или на цилиндрической. В первом случае рентгенограмма представляет собой набор концентрических колец с различной шириной, интенсивностью и взаимным расположением. [29]
 |
Графический метод расчета структурных амплитуд при помощи транспортира. Случай вещественной амплитуды. [30] |
Страницы: 1 2 3 4