Дифракционные лучи

Cтраница 3

Поскольку модель является двухмерной, в обратном пространстве ей соответствует система бесконечных стержней, вытянутых в направлении, перпендикулярном плоскости модели. Дифракционные лучи проходят через точки пересечения этой системы со сферой отражения. Наименьший практически выполнимый линейный масштаб модели структуры - 25 - 50 ячеек на 1 см. Длина волн световых лучей во много раз меньше, - 5 - 10 - 5 см. Следовательно, кривизна поверхности сферы отражения ничтожна, а дифракционные лучи практически параллельны друг другу. Поэтому пятна на фотопластинке расположатся так же, как узлы в соответствующей сетке обратной решетки. [31]

Расширение дифракционных пятен вследствие непараллельности первичного пучка лучей. [32]

Если на кристалл падает сходящийся пучок лучей, как это имеет место в действительности, то и интервал отражающих ориентации кристалла и угловая ширина дифракционного максимума должны увеличиться. Соответственно этому и дифракционные лучи окажутся направленными не в одну точку, а в виде расходящегося пучка. Пятно рентгенограммы должно быть тем шире и тем слабее, чем больше угловая расходимость первичного пучка. [33]

Семейство дифракционных конусов. [34]

Допустим для простоты, что вдоль оси вращения располагается ось Z решетки кристалла. В главе IX было показано, что дифракционные лучи, создаваемые одним отдельно взятым рядом атомов, распространяются по образующим семейства коаксиальных конусов, растворы которых зависят от угла между падающим лучом и атомным рядом. [35]

Каждый такой геометрооптиче-ский луч порождает целый веер ди - ис - 2.7. Дифракция иа ребре. Если луч попал на вершину, то возникают дифракционные лучи, уходящие от вершины по всем направлениям. [36]

Этот метод является основным инструментом рентгеноструктурного анализа кристаллов. Существенно, конечно, и то обстоятельство, что все дифракционные лучи имеют одну и ту же длину волны, что позволяет воспользоваться наиболее интенсивной / ( а-линией линейчатого спектра. Основной недостаток метода - необходимость монокристаллического образца исследуемого вещества. К сожалению, этот недостаток непреодолим, и весь современный структурный анализ - определение атомного расположения в элементарной ячейке и решение других, более тонких задач строения ( см. гл. V, § 4) - основан на исследовании монокристаллов. Поэтому, в частности, получение достаточно крупных кристаллов в процессе синтеза ( кристаллов миллиметрового размера) становится одной из насущных задач химического синтеза. [37]

Этот метод является основным инструментом рентгеноструктурного анализа кристаллов. Существенно, конечно, и то обстоятельство, что все дифракционные лучи имеют одну и ту же длину волны, что позволяет воспользоваться наиболее интенсивной Ка-линией линейчатого спектра. Основной недостаток метода - необходимость монокристаллического образца исследуемого вещества. К сожалению, этот недостаток непреодолим, и весь современный структурный анализ - определение атомного расположения в элементарной ячейке и решение других, более тонких задач строения ( см. гл. V, § 4) - основан на исследовании монокристаллов. Поэтому, в частности, получение достаточно крупных кристаллов в процессе синтеза ( кристаллов миллиметрового размера) становится одной из насущных задач химического синтеза. [38]

Число узловых прямых, которые можно провести в решетке, вообще говоря, бесконечно. Если бы спектр лучей простирался от А 0 до оо, то дифракционные лучи шли бы практически через все точки поверхности сферы отражения. В действительности же спектр имеет коротковолновую границу, зависящую от напряжения на трубке ( стр. Этим определяется минимальный размер обратной решетки. Таким образом, обратное тело в полихроматическом методе - это связка радиальных прямых ( эффективных прямых), каждая из которых начинается с узла минимальной обратной решетки. Эффективные прямые, исходящие из узлов, расположенных вне сферы отражения, пересекать сферу не могут: число отражений, следовательно, ограничено; оно не может быть больше, чем число узлов минимальной решетки, расположенных внутри сферы отражения. [39]

От всех остальных кристалликов, ориентированных под теми же углами 9i к пачкам плоскостей с межплоскостным расстоянием di, возникнут дифракционные лучи, расположенные по образующим этого же дифракционного конуса. При линейных размерах кристалликов порядка 1 мкм ( 109 кристалликов в 1 мм3) отдельные дифракционные лучи ( образующие конуса) настолько близко располагаются друг к другу, что заполняют всю поверхность конуса, то есть поверхность конуса получается сплошной. [40]

Камера РКД для съемки по методу порошка. [41]

При съемке мелкокристаллических образцов линии дебаеграммы получаются сплошными. При линейных размерах кристалликов, превышающих 10 - 3 см, число их оказывается недостаточным, чтобы дифракционные лучи заполнили всю поверхность конуса. [42]

Отраженные лучи для нулевой слоевой линии проходят через всю пластину. Однако для ненулевых слоевых линий они проходят через меньшую толщу кристалла, при этом чем больше номер слоевой линии, тем меньше ослабляются дифракционные лучи. Эффект будет более заметным для сильно поглощающих соединений, и поэтому введение поправок на поглощение важнее для соединений, содержащих металлы, чем для органических соединений. [43]

Второй метод ускорения эксперимента - замена последовательного измерения отражений в обычных диф-рактометрах одновременным измерением многих дифракционных пучков с помощью специальных устройств. В настоящее время разработаны так называемые многоканальные дифрактометры, оснащенные системой из нескольких ( трех или пяти) параллельно перемещаемых счетчиков, которые регистрируют дифракционные лучи, возникающие одновременно ( или почти одновременно) на разных слоевых линиях в процессе вращения кристалла. [44]

В методе вращения строго монохроматический рентгеновский луч направляется на монокристалл, вращающийся вокруг одной из кристаллографических осей. Следовательно, здесь при постоянной А, изменяется угол 0 падения луча на семейство отражающих плоскостей. Дифракционные лучи идут по образующим конусов и попадают на фотопленку, цилиндрически расположенную вокруг монокристалла. Рентгенограмма имеет вид послойно расположенных пятен разной величины и интенсивности. [45]

Страницы: 1 2 3 4