Современный электронный микроскоп
Cтраница 2
При ускоряющем напряжении, равном 100 кВ, которое типично для современных электронных микроскопов, длина волны Я 0 04 А. Однако практически разрешающая способность лучших современных электронных микроскопов на два порядка ниже и составляет 1 - 5 А. Изображение микрообъектов в электронном микроскопе рассматривается с помощью специального экрана, флюоресцирующего под действием электронов, или фотолрафируется. Обычно в электронном микроскопе изучают картину, получающуюся при прохождении электронов через тонкий слой ( пленку) вещества. [16]
Интересно сопоставить указанное соотношение с тем, что имеет место в современном электронном микроскопе при просвечивании монокристаллической пластинки. [17]
Метод электронной микроскопии особенно эффективен в сочетании с электронографией, тем более, что современные электронные микроскопы могут работать также и как электропографы. [18]
Однако имеются такие проблемы, решение которых с помощью рентгеновского голографического микроскопа привело бы к устранению ряда существенных недостатков современного электронного микроскопа. Так, например, рентгеновские лучи не нагревают образец и обладают значительно большей проникающей способностью, чем электронные лучи самых высоких энергий. Эти качества очень важны для металлургии и особенно для биофизики, где приходится иметь дело с живой материей. Кроме того, рентгеновскому микроскопу не требуется вакуум, в то время как электронному микроскопу вакуум необходим. [19]
 |
Схема хода лучей в электронном микроскопе. [20] |
Изображение, получаемое на флуоресцирующем экране, может быть сфотографировано, причем полученный снимок можно еще увеличить, так что общее предельное увеличение современных электронных микроскопов весьма большое. В общем он сходен с ходом световых лучей в обычном микроскопе. Однако поскольку электроны легко рассеиваются и поглощаются, для фокусировки пучка электронов применяют электромагнитные катушки, создающие электростатические или магнитные поля. Для уменьшения рассеяния электронов внутри электронного микроскопа поддерживают высокий вакуум. Наконец, с той же целью для исследования применяют объекты очень малой толщины, нанесенные обычно на тончайшую нитроцеллюлозную, кварцевую, углеродную или другие пленки, прозрачные для пучка электронов. Если последнее условие не будет соблюдено, то под воздействием электронов может происходить нагревание и разрушение объекта. Очень часто вместо самих объектов в электронном микроскопе наблюдают их отпечатки на различных пленках. [21]
 |
Схема хода лучей в электронном микроскопе. [22] |
Изображение, получаемое на флуоресцирующем экране, может быть сфотографировано, причем полученный снимок можно еще увеличить, так что общее предельное увеличение современных электронных микроскопов весьма большое. [23]
 |
Схема хода лучей в электронном микроскопе. [24] |
Изображение, получаемое на флуоресцирующем экране, может быть сфотографировано, причем полученный снимок можно еще увеличить, так что общее предельное увеличение современных электронных микроскопов весьма большое. В общем он сходен с ходом световых лучей в обычном микроскопе. Однако поскольку электроны легко рассеиваются и поглощаются, для фокусировки пучка электронов применяют электромагнитные катушки, создающие электростатические или магнитные поля. Для уменьшения рассеяния электронов внутри электронного микроскопа поддерживают высокий вакуум. Наконец, с той же целью для исследования применяют объекты очень малой толщины, нанесенные обычно на тончайшую нитроцеллюлозную, кварцевую, углеродную или другие пленки, прозрачные для пучка электронов. Если последнее условие не будет соблюдено, то под воздействием электронов может происходить нагревание и разрушение объекта. Очень часто вместо самих объектов в электронном микроскопе наблюдают их отпечатки на различных пленках. [25]
Если обычные оптические микроскопы, с помощью которых в прошлом веке были сделаны выдающиеся открытия, в том числе открытие клетки, имели небольшие размеры, были настольными, то современные электронные микроскопы внешне похожи больше на станки, чем на приборы: они стоят на полу, имеют свою опорную плиту, их высота превышает рост человека. [26]
Однако реально разрешающая способность электронного микроскопа значительно ниже вследствие электронно-оптической аберрации - искажений, размытия электронно-оптических изображений, вызываемых потерей энергии при взаимодействии электронов с веществом, нестабильностью источников питания и электронных линз и др. Тем не менее разрешение современных электронных микроскопов достигает 0 3 - - 0 5 нм, что позволяет получать изображение частиц во всем диапазоне размеров, соответствующих коллоидным растворам. [27]
В отличие от оптического микроскопа, у которого максимально возможное увеличение имеет порядок 103 раз, электронный микроскоп может давать, вообще говоря, сколь угодно большое увеличение. Современные электронные микроскопы обладают максимальным увеличением порядка 105 раз. [28]
В настоящее время электронные микроскопы сконструированы, однако, вследствие несовершенства линз разрешающая способность микроскопов превышает резрешающую способность световых микроскопов не на пять порядков, как это следовало ожидать, а всего на два порядка. Современные электронные микроскопы имеют разрешающую способность d 5 - 8 А. [29]
В отличие от оптического микроскопа, у которого максимально возможное увеличение имеет порядок 103 раз, электронный микроскоп может давать, вообще говоря, сколь угодно большое увеличение. Современные электронные микроскопы обладают максимальным увеличением порядка 105 раз. [30]
Страницы: 1 2 3 4