Cтраница 3
Представляет интерес применение отражательной электронной микроскопии. Большинство современных электронных микроскопов просвечивающего типа может также работать в режиме на отражение, что позволяет наблюдать микроструктуру поверхности, не применяя весьма трудоемкой репликации. Однако образец, поглощая энергию подающего пучка, нагревается и даже может разрушиться. Кроме того, возникающее изображение оказывается значительно искаженным вследствие малого угла зрения. Все эти обстоятельства, а также относительно низкая разрешающая способность, существенно ограничивают применение этого метода. Тем не менее отражательная электронная микроскопия представляется весьма интересным методом, особенно для изучения структуры поверхности массивных образцов, и привлекает внимание исследователей. Дело в том, что отражательный электронный микроскоп имеет чрезвычайно высокую чувствительность к микрорельефу поверхности благодаря длинным теням, образующимся за незначительными выступами вследствие скользящего облучения поверхности. [31]
Все сказанное выше относительно метода оттенения остается справедливым, пока работают с электронными микроскопами, обладающими разрешающей способностью около 30 - 50 А. Однако применение современных электронных микроскопов с высоким разрешением позволило установить, что практически все напыленные слои в той или иной степени обладают зернистой структурой. Это вполне естественно, так как из общих соображений следует, что атомы металлов, нанесенные на подложку, проявляют тенденцию к агрегированию ( см. стр. Очевидно, например, что на гладкой поверхности скола монокристалла атомы, характеризующиеся слабым взаимодействием с поверхностью, будут мигрировать по ней и образовывать сравнительно крупные агрегаты. Кроме того, имеет значение температура подложки, угол падения атомов относительно поверхности и скорость испарения металла. [32]
Поэтому для изучения формы и размеров элементов надмолекулярной структуры полимеров используется электронный микроскоп, действие которого основано на принципе поглощения или рассеяния электронов ( прямая электронная микроскопия или электронография), длина волны которых в несколько сот тысяч раз меньше длины волны видимого света. Разрешающая способность современных электронных микроскопов достигает нескольких ангстрем. Практически ( с учетом недостаточно высокого различия ов электронных плотностях полимеров) разрешение составляет 10 - 30 А. Техника прямого рассмотрения объектов, контрастирования их и получения с них реплик, а также детали устройства современных микроскопов подробно описаны в литературе, а конкретные примеры электронно-микроскопических фотографий приводятся в гл. Поэтому здесь следует обратить внимание только на те ограничения, которые необходимо принимать во внимание при интерпретации и оценке результатов электронно-микроскопических исследований. [33]
Хиллиером и Рамбергом [1], может быть уменьшена по крайней мере еще на порядок. Это необходимо для реализации полной разрешающей способности современных электронных микроскопов. [34]
Этому способствовало то обстоятельство, что полезное увеличение современных электронных микроскопов на два порядка превышает увеличение оптических микроскопов. [35]
Этому способ-ствовало то обстоятельство, что полезное увеличение современных электронных микроскопов на два порядка превышает увеличение оптических микроскопов. [36]
Этому способствовало то обстоятельство, что полезное увеличение современных электронных микроскопов на два порядка превышает увеличение светового микроскопа. [37]
Этому способ-ствовало то обстоятельство, что полезное увеличение современных электронных микроскопов на два порядка превышает увеличение оптических микроскопов. [38]
Особую ценность этот метод приобретает в связи с тем, что в современных электронных микроскопах с одного и того же участка можно одновременно получать как ЭМ изображение, так и дифракционную картину. Этим методом исследованы ориентированные пленки ПЭ [66], ПАН [67], натурального каучука [68], ПВФ [69] и других полимеров ( рис. II. Анализ подобных картин показывает, что для всех полимеров макромолекулы выстроены вдоль осей микрофибрилл. [39]
Приготовление предмета исследования в электронном микроскопе представляет более сложную задачу, чем изготовление микрошлифа. Предмет исследования должен быть прозрачным и весьма тонким, так как до последнего времени еще не удалось использовать электронный микроскоп для работы с отраженными электронными лучами, и современный электронный микроскоп работает по схеме проходящих луче. Это объясняется тем, что при отражении электронных лучей от поверхности непрозрачного объекта, например, металла, возникают значительная хроматическая аберрация и другие явления, приводящие к резкому снижению разрешающей способности микроскопа и, следовательно, к потере этого основного преимущества электронного микроскопа. [40]
Инфекционные болезни вызываются микробами ( микроорганизмами), обладающими очень малыми размерами. Изучают микроорганизмы с помощью микроскопа. Современный электронный микроскоп дает увеличение в 200 000 раз и более. [41]
Они применяются повсюду - от медицины и металлургии до биологии и агротехники. А современные электронные микроскопы уже наблюдают и так называемые субмикроскопические объекты, невидимые приборам недавнего прошлого. [42]
Естественно, что лучшим методом изучения размеров и формы частиц является их прямое наблюдение. Разрешающая способность современных электронных микроскопов составляет около 20 А, что позволяет проводить прямые наблюдения по крайней мере крупных белковых молекул. Эти наблюдения показали, что формы и размеры молекул могут быть самыми разнообразными. Например, молекулы эдестина конопли имеют вид шарообразных частиц с диаметром около 80 А, вирусы карликовой кустистости томата и мозаики тыквы также имеют сферическую форму, но диаметр их равен 250 А; отдельные молекулы вируса табачной мозаики представляют палочки длиной до 2800 Аи диаметром 150 А. Молекулы некоторых белков ( например, миозина, белка мышц) состоят из нитей, имеющих 50 - 100 А в ширину и несколько тысяч ангстрем в длину. [43]
В поле напряженностью 50 000 в электронам сообщается скорость 124 000 км / сек, что соответствует длине волны, равной сотым долям ангстрема. Разрешающая способность современного электронного микроскопа имеет размер порядка 5 - 10 А, однако это только в том случае, если объект непосредственно исследуется под электронным микроскопом. [44]
Сочетание методов тепловой микроскопии с методами рентгеноструктурного анализа и просвечивающей электронной микроскопии дает более широкие представления о механизме и кинетике протекания дисперсионного твердения аустенитных нержавеющих сталей. Возросший за последнее время интерес к электронной микроскопии связан главным образом с появлением нового метода исследования на просвет тонких ( до 1000 А) пленок, полученных из массивных образцов. Это стало возможным при применении в современных электронных микроскопах электронного пучка, обладающего большой проникающей способностью и высокой интенсивностью, что обеспечивается системой двойных конденсорных линз. Метод тонких пленок позволяет полностью использовать разрешающую способность современного электронного микроскопа и имеет по сравнению с методом реплик ряд преимуществ, основные из которых заключаются в получении трехмерной картины микроструктуры и возможности легко наблюдать такие дефекты матрицы, как линии дислокаций, и изучать их взаимодействие с выделениями. [45]