Cтраница 4
Два миллиона раз - это далеко не предельное усиление приемника. Но и такое усиление трудно с чем-нибудь сравнить. Ведь лучший микроскоп увеличивает всего в тысячу раз и даже могущественнейший современный электронный микроскоп, позволяющий разглядеть крупные молекулы, увеличивает примерно в 100 000 раз. [46]
Так как величина частиц усиливающих наполнителей обычно находится за пределами разрешающей способности светового микроскопа, для точного определения их размера необходимо использовать электронный микроскоп. Хотя различные методы, основанные на адсорбции газа, позволяют весьма точно измерить общую поверхность наполнителя, метод электронной микроскопии имеет ряд преимуществ при определении геометрической поверхности. Последняя рассчитывается по величинам частиц с учетом их распределения по размерам. Современные электронные микроскопы позволяют без особых трудностей различить дета ли размер ом менее 50 А. Следовательно, эти приборы, которые ранее применялись исключительно в исследовательских целях, теперь можно использовать для производственного контроля даже наиболее тонкодисперсных наполнителей. [47]
Благодаря большому увеличению электронный микроскоп способен регистрировать на фотопластинке такие малые детали изображения микрообъекта, которые не в состоянии обнаружить ни один другой прибор. Однако исследователя интересует не только форма, но и структура микрообъекта, особенно это относится к сложным катализаторам. Поэтому современный электронный микроскоп приспособлен для проведения прицельного структурного анализа. При этсм можно получить методом микродифракции электрограммы с участков, которые интересуют исследователя, диаметром в доли микрона. [48]
Благодаря большому увеличению электронный микроскоп способен регистрировать на фотопластинке. Однако исследователя интересует не только форма, но и структура микрообъекта, особенно это относится к сложным катализаторам. Поэтому современный электронный микроскоп приспособлен для проведения прицельного структурного анализа. При этом можно получить методом микродифракции электрограммы с участков, которые интересуют исследователя, диаметром в доли микрона. [49]
Сочетание методов тепловой микроскопии с методами рентгеноструктурного анализа и просвечивающей электронной микроскопии дает более широкие представления о механизме и кинетике протекания дисперсионного твердения аустенитных нержавеющих сталей. Возросший за последнее время интерес к электронной микроскопии связан главным образом с появлением нового метода исследования на просвет тонких ( до 1000 А) пленок, полученных из массивных образцов. Это стало возможным при применении в современных электронных микроскопах электронного пучка, обладающего большой проникающей способностью и высокой интенсивностью, что обеспечивается системой двойных конденсорных линз. Метод тонких пленок позволяет полностью использовать разрешающую способность современного электронного микроскопа и имеет по сравнению с методом реплик ряд преимуществ, основные из которых заключаются в получении трехмерной картины микроструктуры и возможности легко наблюдать такие дефекты матрицы, как линии дислокаций, и изучать их взаимодействие с выделениями. [50]
Электронно-микроскопические исследования затруднены весьма сложными и трудными методами препарирования. Способность электронов проникать через массу чрезвычайно ограничена. Например, тончайший микротомный срез в несколько микрон слишком толст для электронов. Такой слой является непрозрачным при скоростях электронов, обычно используемых в современных электронных микроскопах. [51]
Основную часть выпуска промышленных образцов микроскопов составляют просвечивающие электронные микроскопы. Здесь есть конструкции как с одной промежуточной линзой, так и с двумя линзами. Обычно ускоряющая разность потенциалов равна 50 - 100 кВ, однако разрабатываются микроскопы, в которых ускоряющее напряжение достигает единиц мегавольт. Характерными для современных электронных микроскопов являются большой диапазон увеличений ( 220х - 500000х), наличие высококачественной системы регистрации, высокая стабильность блоков питания объективной и других линз, многокаскадная вакуумная система, разнообразие конструкций держателей образцов. [52]
Применение электронографии для исследования полимеров основано на тех же принципах, что и применение рентгенографии. Одинаков и характер29 информации, получаемой этими методами. Вследствие меньших значений К для быстрых - электронов ( - 0 1 А) искажения, вносимые конечными размерами кристаллитов, начинают сказываться при меньших d ( - 100 А), но рефлексы значительно интенсивнее и экспозиции, требуемые для получения четких электронограмм, весьма невелики. Элек-тронограммы можно наблюдать непосредственно на светящихся экранах, а исследование производить в тонких образцах, что исключает необходимость учета многократного рассеяния в толще вещества. Приспособления для получения электронограмм имеются во всех современных электронных микроскопах. В последнее время проведены работы, в которых для исследования полимеров использован метод электронографии под малыми углами. [53]