Растровый электронный микроскоп
Cтраница 1
Растровый электронный микроскоп имеет меньшую разрешающую способность; но его достоинство - возможность непосредственно наблюдать структуру поверхности объекта без изготовления слепков или получения тонких фольг. [1]
Растровый электронный микроскоп и микроанализатор позволяет: фотографировать изображения поверхности объекта с экрана кинескопа и светового микроскопа; проводить визуальный осмотр исследуемого участка с помощью зеркального. [2]
Растровый электронный микроскоп работает при ускоряющих напряжениях до 30 кВ; при этом достигается предельное разрешение 7 нм в растрово-просвечиваюшем режиме и 10 нм в режиме вторичной электронной эмиссии; увеличение от 7 до 240000 раз. [3]
Растровый электронный микроскоп работает при ускоряющих напряжениях до 60 кВ, при этом достигается предельное разрешение 7 нм в растрово-просвечивающем режиме и 10 нм в режиме вторичной электронной эмиссии. У микроскопа имеются приставки для нагревания до 400 С и деформации образца. Микроскоп может использоваться вместе со спектрометром. [4]
Растровый электронный микроскоп работает при ускоряющих напряжениях до 50 кВ, при этом достигается предельное разрешение 10 нм как при растрово-просвечивающем режиме, так и в режиме электронной эмиссии. Микроскоп имеет телевизионное изображение и может использоваться совместно с рентгеновским мнкроанализатором. [5]
Растровые электронные микроскопы, в которых изображение создается электронами, отраженными исследуемой поверхностью, причем пучок электронов сканирует поверхность подобно лучу в телевизионном кинескопе. [6]
Растровый электронный микроскоп ( РЭМ) 1 формирует изображение объекта при сканировании его поверхности электронным зондом. [7]
 |
Схема хода лучей в световом ( а, электронном электромагнитном ( б и электронном электростатическом ( в микроскопах. [8] |
Растровые электронные микроскопы, в которых изображение создается электронами, отраженными исследуемой поверхностью, причем пучок электронов сканирует поверхность подобно лучу в телевизионном кинескопе. [9]
Растровый электронный микроскоп РЭМП-2 позволяет получать фотоснимки изображения поверхности объекта с экрана кинескопа. Микроскоп имеет предельное разрешение 0 5 мкм; увеличение 5000, размер исследуемого образца 10X10x3 мм. [10]
Использование растровых электронных микроскопов дает возможность исследовать поверхность массивных образцов, не прибегая к методике репликации. В этом случае исследуются поверхности излома, в том числе образованные при физико-механических испытаниях. [11]
Схема растрового электронного микроскопа ( РЭМ): / - изолятор электронное пушки; 2 - f - обраэный термокатол; 3 - фокусирующий электрод; 4-анод; 5 - конденсорные лвнзы; 6 - диафрагма; 7-двухъярусная отклоняющая система; 8-объектив; 9-апертурная диафрагма объектива; 10 - объект; 11 - Детектор вторичных электронов; 12-кристаллический спектрометр; 13 - пропорциональный счетчик; 14 - предварительный усилитель; 15 - блок усиления; 16, 17-аппаратура для регистрации рентгеновского излучения; 18 - блок усиления; 19-блок регулировки увеличения; 20, 21 - блоки горизонтальной и вертикальной разверток; 22, 23-электронно-лучевые трубки. [13]
В растровом электронном микроскопе узкий пучок электронов перемещается в двух взаимно перпендикулярных направлениях по поверхности образца. Эмитируемые в результате этого с поверхности образца отраженные и вторичные электроны улавливаются коллектором и преобразуются в электрический сигнал. [14]
Страницы: 1 2 3 4