Растровый электронный микроскоп - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
В мире все меньше того, что невозможно купить, и все больше того, что невозможно продать. Законы Мерфи (еще...)

Растровый электронный микроскоп

Cтраница 4


46 Зависимость размеров зоны воз-бужд (. [46]

В табл. 5 представлены технические данные некоторых растровых электронных микроскопов, в которых предусмотрена установка рентгеновских спектрометров для проведения РСМА.  [47]

Химический анализ отдельных частиц выполняют с помощью растрового электронного микроскопа.  [48]

Такая же цель достигается и при использовании низковакуумного растрового электронного микроскопа ( НВРЭМ), дающего возможность исследовать поверхность сильно увлажненных и даже живых объектов без предварит, хим. или криогенной фиксации. В НВРЭМ объектная камера отделена от колонны РЭМ диафрагмой малого диаметра, пропускающей сканирующий электронный луч, но препятствующей проходу молекул газов в высоковакуумную часть колонны. Испускаемые поверхностью ВЭ собираются спец. Использование НВРЭМ значительно расширяет исследовательские возможности биологов, почвоведов и материаловедов, позволяя в перспективе создать полевой вариант РЭМ.  [49]

50 Микроснимки, полученные с помощью растрового электронного микроскопа. а - поверхностный рельеф нелегированной пленки CdS, нанесенной методом пульверизации с последующим пиролизом. б - поверхностный рельеф пленки CdS, легированной алюминием. в - поверхность раздела Cu2S - CdS солнечного элемента, изготовленного методом пульверизации в сочетании с мокрым химическим процессом, после удаления пленки Cu2S посредством травления в KCN. г - пленка Cu2S, отделенная от тонкопленочного солнечного элемента со структурой Cu2S - CdS, полученного методом пульверизации в сочетании с мокрым процессом. [50]

На рис. 4.3 представлены полученные с помощью растрового электронного микроскопа снимки беспримесных пленок CdS, нанесенных посредством пульверизации с последующим пиролизом, и пленок CdS, легированных алюминием.  [51]

Прежде всего подчеркнем, что полученная в растровом электронном микроскопе поверхностная картина деформации при взрывном нагружении, предусматривающем сдвиговой характер пластического течения при давлениях, превышающих некоторые критические, качественно подобна изображенной на фото 1 - 5 и радикально отличается от обычной сдвиговой деформации. Поскольку в этих условиях реализуется схема давление плюс сдвиг, естественно ожидать возникновения в материале в зоне фронта взрывной волны областей атом-вакансионных состояний, пластическое течение которых должно носить вихревой характер.  [52]

Для визуализации электрических микрополей успешно можно использовать и растровые электронные микроскопы.  [53]

Применение методов микро-рентгеноспект-рального анализа с использованием приставок к растровому электронному микроскопу показало, что исследуемые частицы не отличаются от основы сплава и не имеют особенностей в виде избытков легирующих элементов.  [54]

55 Схема излома детали по ее профилю. [55]

Анализ закономерности формирования микрорельефа излома, проведенный на растровом электронном микроскопе Квик-100, позволил установить, что в пределах зоны очага разрушения имеется сглаженный рельеф поверхности, образованный в результате развитого процесса коррозии материала.  [56]

Изучение механики усталостных трещин началось после внедрения в практику исследований растрового электронного микроскопа, разрешающая способность которого позволяет четко разграничить стадии возникновения и развития трещин начиная с момента излома микроструктуры. На этом микроскопе удается наблюдать начало процесса концентрации рассеянных микротрещин и перерастания их в одну конечную трещину критического размера, которая под воздействием приложенных усилий после медленного роста переходит в катастрофическое состояние. Однако такой процесс не носит внезапного характера, он состоит из последовательного объединения соседних микротрещин, уменьшения числа микротрещин, размер которых увеличивается, и ускорения роста размеров одной из трещин. Такая трещина называется конечной, и именно она приводит к усталостному разрушению.  [57]

Первые эксперименты с углеродными волокнами, используемыми в заостренном виде для растрового электронного микроскопа [155], показали очень большую ( на несколько порядков величины) долговечность в условиях высокого технического вакуума по сравнению с вольфрамовыми. Далее было показано, что такие волокна - для получения с них автоэмиссии - можно и не заострять [156], что создало предпосылки для развития исследований автоэмиссионных свойств таких материалов. Значительная часть подобных исследований представлена в данной главе или в ссылках на литературу.  [58]

Анализ поверхности изломов ( рис. 6.15) разрушенных образцов с помощью растрового электронного микроскопа РЭМ-ЮОУ показал, что начало разрушения МСС наблюдается по границам исходных зерен аустенита. Фасетки межзеренного разрушения имеют форму многогранников с гладкими поверхностями и соответствуют форме и размерам зерен. В изломе между зернами образуются вторичные трещины без видимых следов деформации.  [59]



Страницы:      1    2    3    4