Растровый электронный микроскоп

Cтраница 3

Современные рентгеновские микроанализаторы сблокированы с растровым электронным микроскопом, в его поле зрения производится поиск объекта для микроанализатора. [31]

Каскад раздробленных ( а цилиндрических частиц и ( б, ( в отдельные цилиндрические частицы с начальными поперечными трещинами ( указаны стрелками в изломе образца из алюминиевого сплава АК6. [32]

Применение методов микро-рентгено-спектрального анализа на растровом электронном микроскопе показало, что частицы не имеют никаких особенностей по сравнению с основным материалом в виде избытков легирующих элементрв. Измерение микротвердости частиц размером около 10 мкм покат зало, что она более чем в 1 5 раза выше, чем у основного материала. Последнее обусловлено процессом обкатки частиц и их упрочнением. [33]

Фрактографические исследования поверхностей изломов на растровом электронном микроскопе подтвердили хрупкий характер изломов вблизи наружной поверхности трубы и вязкий - в зоне долома. На рис. 4.80 показан вид хрупкого разрушения, для которого характерно наличие речного узора, ограниченного гребнями отрыва, видны ступеньки, образующиеся по вторичным плоскостям. [34]

В последние годы все шире применяют растровые электронные микроскопы, в которых изображение создается за счет вторичной эмиссии электронов, излучаемых поверхностью, на которую падает непрерывно перемещающийся по этой поверхности поток первичных электронов. [35]

Для изучения массивных блоков полииеров удобны растровые электронные микроскопы. Особенно большими преимуществами они обладают при исследовании объектов с грубым рельефом, композиционных материалов, а также при изучении топографии поверхностей разрушения. [36]

Для изучения массивных блоков полимеров удобны растровые электронные микроскопы. Особенно большими преимуществами они обладают при исследовании объектов с грубым рельефом, композиционных материалов, а также при изучении топографии поверхностей разрушения. [37]

В связи с этим получили применение растровые электронные микроскопы, в которых изображение создается благодаря вторичной эмиссии электронов, излучаемых поверхностью, на которую падает непрерывно перемещающийся по этой поверхности поток первичных электронов. [38]

Микроструктура межпоровой стенки пенококса ВК-900. [39]

Из снимков, полученных с помощью растрового электронного микроскопа, видно ( рис. 27), что толщина меж-поровых стенок неравномерна и в них встречаются более мелкие поры-пузырьки, располагающиеся в самой широкой их части в пространстве между несколькими ( 3 - 4) крупными порами-ячейками и очень редко - в тонких стенках между двумя крупными порами. [40]

Непосредственное изучение поверхности конденсатов с помощью растрового электронного микроскопа показывает, что аморфные конденсаты можно разделить на два типа - с упорядоченной и неупорядоченной структурой. Конденсаты с упорядоченной структурой состоят из частиц округлой формы размером от 100 до 800 нм. Конденсаты с неупорядоченной структурой состоят из частиц неправильной формы с изрезанными границами размером от 100 до 2000 нм. [41]

Анализ может быть выполнен с помощью растрового электронного микроскопа в сочетании с локальным рентгеноспектральным микроанализом и соответствующим программным обеспечением, что позволяет получить информацию как о размере, так и о составе частиц. Общее время анализа обычно составляет восемь и более часов. [42]

Исследования структуры рабочей поверхности автокатодов в растровом электронном микроскопе [225] позволяют сделать заключение о динамике изменения рабочей поверхности. ЗЗа, б) с микровыступами с радиусами закругления порядка 0 01 - 0 1 мкм претерпевает разрушения под действием ионной бомбардировки и пондеромоторных сил. Эти разрушения наиболее интенсивны в первые 50 - 100 часов работы и проявляются в виде многочисленных язв и щербин, эрозии боковой поверхности и наружной кромки волокна, аналогично полиакрилонитрильным волокнам. [43]

Зависимость размеров зоны возбуждения d от диаметра электронного пуч-ка rfn. [44]

В табл. 5 представлены технические данные некоторых растровых электронных микроскопов, в которых предусмотрена установка рентгеновских спектрометров для проведения РСМД. [45]

Страницы: 1 2 3 4