Двойной микроскоп

Cтраница 1

Двойной микроскоп основан на использовании метода светового сечения; с его помощью определяют среднюю высоту микронеровностей в пределах 3 - 70 мк. [1]

Общий вид прибора для определения износоустойчивости оксидных. [2]

Двойной микроскоп состоит из основания, на котором смонтированы координатный предметный столик, колонки и кронштейн. Собственно микроскоп укреплен на кронштейне. При помощи рейки и винта микроскоп может грубо фокусироваться на объект измерения. Точная фокусировка осуществляется микрометрическим винтом. Двойной микроскоп имеет осветительный и визуальный тубусы, которые наклонены под углом 45 к нормали испытуемой детали в месте изображения щели. Микроскоп позволяет измерять неровности от 0 9 до 60 мкм. [3]

Двойные микроскопы позволяют контролировать поверхности с шероховатостью Rz 60 - 2 мкм; растровые микроскопы ( например, модели ОРИМ-1) с R 40н - 0 6 мкм, микроинтерферометры ( например, модели МИИ-14) - поверхности с шероховатостью Rz 0 6 - 4 - 0 025 мкм. [4]

Двойной микроскоп состоит из основания, на котором смонтирован координатный предметный столик, колонки и кронштейн. [5]

Двойной микроскоп светового сечения МИС-11. [6]

Двойной микроскоп основан на принципе светового сечения. При освещении проверяемой поверхности наклонным плоским пучком лучей света ( рис. 1, а) на поверхности образуется узкая освещенная полоска, которая представляет собой след пересечения проверяемой поверхности плоскостью светового потока, следующий по всем поверхностным неровностям, попавшим в сечение. Рассматривая освещенную полоску под некоторым углом наклона к проверяемой поверхности, можно, измерив окулярным микрометром ее отклонения от прямолинейности, определить величину поверхностных неровностей. [7]

Двойные микроскопы ( приборы, основанные на принципе светового сечения) предназначены для измерений шероховатостей поверхностей по методу светового сечения. [8]

Двойной микроскоп основан на принципе светового сечения. Прибор изображен на фиг. [9]

Двойной микроскоп включается в электросеть через трансформатор. [10]

Схема двойного микроскопа на основе метода светового сечения. [11]

Двойной микроскоп позволяет измерять шероховатость по 3 - 9 классу. [12]

Двойной микроскоп имеет осветительный / и визуальный 2 тубусы, расположенные под углом 90 друг к другу. [13]

Двойной микроскоп имеет осветительный / и визуальный 2 тубусы, расположенные под углом 90 друг к другу. [14]

Оптическая схема интерференционного микроскопа МИИ-4. [15]

Страницы: 1 2 3 4 5