Двойной микроскоп
Cтраница 3
Правильность увеличения двойного микроскопа при работе со штриховой и профильной окулярными головками проверяют описанным выше методом ( см. фиг. Если нарушение увеличения более допустимого, двойной микроскоп юстируют. Для этого отвертывают кольца / и 2 ( фиг. [31]
Оптические приборы ( двойной микроскоп и интерферометр) менее производительны и применяются главным образом в лабораторных условиях. Профилографы находят применение также только в лабораторных условиях. [32]
Большое распространение имеет двойной микроскоп советского академика Ю. В. Линника ( фиг. Микроскоп состоит из двух тубусов: осветительного 1 и визуального 2, наклоненных под углом 45 к исследуемой поверхности ( фиг. Луч света от лампочки 3, проходя через щелевую диафрагму, падает на исследуемую поверхность и, отражается в визуальный тубус. [33]
Диаметр поля зрения двойного микроскопа может быть от 0.85 до 26 мм. [34]
 |
Схема, поясняющая сущность метода светового сечения. [35] |
В основе работы двойного микроскопа МИС-11 лежит метод светового сечения. Сущность данного метода заключается в том, что исследуемая поверхность как бы рассекается световым пучком. Если на поверхность исследуемого объекта падает под некоторым углом пучок света в виде узкой прямой полоски, перпендикулярной к направлению неровностей, то при наблюдении этой полоски под тем же углом, но с противоположной стороны, она видна в поле зрения в виде ломаной линии. [36]
Этот прибор называется двойным микроскопом академика Линника МИС-11 ( фиг. В приборе академика Линийка луч света направляется на поверхность под определенным углом. С противоположной стороны под таким же углом производится наблюдение поверхности. Если световой луч падает на гладкую поверхность, то мы видим узкую ровную световую полоску. Но когда на поверхности имеются какие-либо неровности, то мы наблюдаем уже изломанную полоску света ( фиг. Измеряя при помощи прибора величину излома полоски, мы можем определить высоту неровностей. Прибор дает увеличение до 318 раз. При таком увеличении излом световой полоски получается уже довольно большой величины. Он замеряется специальным устройством микроскопа - окуляр-микрометром. Замер излома световой полоски дает возможность точно в микронах определить высоту шероховатости поверхности. [37]
При измерении на двойном микроскопе МИС-11 высоты неровностей сначала выбирают по приведенной выше таблице подходящую пару объективов в соответствии с ожидаемыми результатами измерения. Осветителем 12 ( рис. 29, е) служит электрическая лампочка 8 В, 9 Вт, которая получает питание от сети переменного тока напряжением 127 / 220 В через трансформатор, прилагаемый к прибору. Фиксация кронштейна осуществляется винтом 10 клеммового зажима. Винтом 8 кремальеры и винтом 6 механизма тонкой наводки перемещают по салазкам 7 в вертикальном направлении микроскопы, добиваясь четкого изображения световой щели на поверхности детали. Это изображение искривляется соответственно неровностям, имеющимся на испытуемой поверхности. Винт 14 служит для установки изображения щели в середине поля зрения окуляра, а кольцо 13 - для регулировки его ширины. Поворотом винтового окулярного микрометра 4 вокруг оси визуального тубуса 5 устанавливают горизонтальную линию перекрестия по общему направлению изображения щели. В этом положении делают первый отсчет по окулярному микрометру. [38]
К оптическим приборам относятся двойной микроскоп и микроинтерферометр, разработанные акад. [39]
На этом принципе сконструирован двойной микроскоп МИС11 ( рис. 2 - 21 а), предназначенный для измерения неровностей от 0 1 до 60 мк и состоящий из двух расположенных под утлом 90 тубусов - проекционного 1 и визуального 2, осветительного устройства и окулярного микрометра с 15-кратным увеличением. В соответствии с оптической схемой прибора лучи света от источника направляются через фильтр в узкую щель и оттуда параллельными лучами попадают в объектив осветительного тубуса. [40]
Преимуществом оптических приборов - двойного микроскопа и микроинтерферометра является то, что в них можно наблюдать форму неровностей исследуемой поверхности. [41]
Преимуществом оптических приборов - двойного микроскопа и микроинтерферометра - является то, что в них можно наблюдать форму неровностей исследуемой поверхности. [42]
Головка работает по принципу двойного микроскопа. Внутри измерительной головки находится основная часть оптических деталей и щель. Измерительная головка 1 ввинчивается вместо объектива в тубус универсального микроскопа. [43]
Измеряя ширину царапины посредством двойного микроскопа Лин-ника, можно вычислить глубину, соответствующую переходу. [44]
Прибор собран на базе двойного микроскопа МИС-11. С помощью микрометрического винта 4 брусок 1 может перемещаться относительно бруска 2 вправо, вследствие чего между брусками образуется плоскопараллельная щель. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5