Двойной микроскоп

Cтраница 4

При измерении высоты неровностей двойным микроскопом МИС-11 используют метод светового сечения, заключающийся в следующем: пучок лучей от источника света через узкую щель и объектив направляют под некоторым углом на исследуемую поверхность. Отраженная световая полоска будет по форме близка к шероховатости исследуемой поверхности. [46]

Измерение высоты неровностей производят двойным микроскопом системы Линника. [47]

Образец для испытания.| Схема царапания абразивным зерном. / - зона деформации. 2-высота наплыва. [48]

Глубина царапины замеряется на двойном микроскопе МИС-11 или в процессе резания с помощью тшевмодатчика установки. [49]

Эталонный набор образцов шероховатости поверхности. [50]

Приборы оптические ( про-филометры, двойной микроскоп Линийка, микроинтерферометры), а также щуповые ( профилографы, профнломет-ры и др.) используются главным образом в измерительных лабораториях. [51]

Схема метода светового сечения ( а и двойной микроскоп. [52]

Одной из таких конструкций является двойной микроскоп модели МИС-11. В приборе узкий пучок света направляется на контролируемую поверхность под определенным углом ( рис. 48, а), и на поверхности образуется узкая освещенная полоска, которая представляет собой след пересечения проверяемой поверхности с плоскостью светового потока. [53]

Измерение коробления производится с помощью двойного микроскопа МИС-11. Отрезок ленты укрепляется под тубусом микроскопа в горизонтальном положении. Изображение щели микроскопа фокусируют на поверхность ленты и определяют стрелу коробления К. [54]

Сущность метода контроля чистоты поверхности двойным микроскопом заключается в следующем. Пучок лучей направляется через узкую щель и объектив проекционного тубуса 3 на контролируемую поверхность. Но так как контролируемая поверхность имеет микронеровности, то световая щель будет искривляться по форме самой поверхности. Полученное изображение световой щели, отраженной от контролируемой поверхности, рассматривается в окуляр визуального тубуса 1 микроскопа, расположенного под углом 90 к проекционному тубусу. [55]

При фотографировании на микроинтерферометре или двойном микроскопе используют высокочувствительную пленку и нужную длину профиля получают, снимая соседние участки поверхности образца, перемещаемого микрометром предметного стола. На двойном микроскопе для определения масштаба предварительно фотографируют шкалу объект-микрометра. Полученные фотографии интерференционной картины или светового сечения устанавливают на проекторе с увеличением 10 или 20 и вычерчивают профилограмму на миллиметровой кальке. Для определения масштаба профилограммы, полученной на микроинтерферометре, на одном из участков вычерчивают контур двух соседних полос. Вычерченные профилограммы обрабатывают теми же способами, что и профилограммы, записанные на щуповом профилографе. [56]

Для определения глубины коррозии также применяют двойной микроскоп Ленника или оптико-механические профилографы, например ИЗП-18. Преимуществом про-филографа являются возможность измерения язвы и получение в увеличенном масштабе фотографической записи микрогеометрии поверхности образца, на которой образовались коррозионные поражения. [57]

Фирма Оптон ( ФРГ) выпускает малогабаритный двойной микроскоп Lichtschnitt-MikrosKdp, имеющий 5 пар сменных. [58]

Испытуемая поверхность помещается в поле зрения двойного микроскопа, дающего увеличение от 63 до 153 крат ( микроскоп выпуска завода Прогресс) в зависимости от увеличения объектива. Максимальная высота неровностей может быть определена отсчетом по делениям оптической шкалы прибора. Для получения надежных результатов необходимо брать на оцениваемой поверхности не менее 10 замеров. [59]

Искривление полос на изображении риски.| Поле зрения прибора МИИ-4. а - наводка. [60]

Страницы: 1 2 3 4 5