Двойной микроскоп

Cтраница 2

Двойной микроскоп В. П. Линника позволяет также фотографировать исследуемую поверхность с высотой. [16]

Двойной микроскоп Линннка применяется для контроля чистоты поверхности в значениях ИCfl для классов чистоты / 3 - VW9 - Пределы измерения прибора определяются выбором соответствующих объективов. [17]

Профилограммы и круглограмма обработанной поверхности. [18]

Двойной микроскоп ПСС-2 и МИС-11 предназначен для измерения шероховатости поверхностей Rz - 0 8 - т - 80 мкм. В этом приборе микронеровности освещают световым лучом, направленным под некоторым углом к контролируемой поверхности. Микронеровности измеряют с помощью окулярного микрометра или фотографируют. Сменными объективами достигают увеличения в 517 раз. [19]

Двойной микроскоп МИС-11 ( рис. 25) предназначен для измерения высоты неровностей Rz для классов чистоты V3 - V9 бесконтактным методом. Измерение высоты неровностей основано на принципе светового сечения, заключающегося в следующем. [20]

Двойной микроскоп МИС-11 и интерференционный микроскоп МИИ-1 широко применяются для измерения технических образцов. [21]

Двойной микроскоп МИС-11 В. П. Линника предназначается для лабораторного контроля шероховатости поверхностей 3 - 9-го классов. [22]

Двойной микроскоп МИС-11 предназначен для лабораторного измерения шероховатости поверхностей 3 - 9-го классов нистоты. [23]

Круглограмма, полученная на кругломере Ронди-гейдж фирмы Бендикс ( США. [24]

Двойной микроскоп МИС-П предназначен для измерения шероховатости поверхности профильным методом. Прибор одновременно преобразует весь профиль исследуемой поверхности, давая так называемое световое сечение поверхности. Прибор имеет четыре комплекта спаренных объектов, обеспечивающих увеличение от 90 до 500х при апертурах от 0 13 до 0 50 и поле зрения от 0 3 до 2 мм. [25]

Двойным микроскопом МИС-11 оптическим методом измеряют глубину канавки, прорезанной скальпелем или ножом на поверхности покрытия до подложки. Пластинку помещают на столик микроскопа так, чтобы световая полоска пересекла канавку под прямым углом, и с помощью волоскового окуляр-микрометра АМ-9-2 ( Х15) измеряют толщину покрытия по глубине канавки. [26]

Разборку двойного микроскопа следует производить по отдельным узлам, определив предварительно, какой из узлов его нуждается в разборке. Полная разборка двойного микроскопа производится в следующем порядке. Отвертывают кольцо / с накаткой ( фиг. Сняв прокладную шайбу 5 и отвернув три винта 6 ( фиг. Тубус объектива без особой надобности разбирать не следует, так как надлежащие юстировочные операции можно производить не разбирая его. Чтобы вынуть неподвижные линзы 16 и 17 с оправой, требуется отвернуть стопорный винт 18 и, сделав пометку положения оправы 19, вывернуть ее. Чтобы снять окулярную штриховую головку, нужно отвернуть винты, снять головку 20 с накаткой и кронштейн, поддерживающий зеркальце. [27]

Микроинтерферометр МИ И 4. [28]

В двойном микроскопе МИС-11 ( рис. 1 6) тубусы микроскопа и осветителя закреплены на кронштейне под углом 45 к вертикали и снабжены регулировками, необходимыми для фокусирования и совмещения изображения светового сечения с центром поля зрения. [29]

При помощи двойного микроскопа определяют высоту неровностей Нср. [30]

Страницы: 1 2 3 4 5