Неоднородность - проба - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
В истоке каждой ошибки, за которую вы ругаете компьютер, вы найдете, по меньшей мере, две человеческие ошибки, включая саму ругань. Законы Мерфи (еще...)

Неоднородность - проба

Cтраница 2


Действительно, вычисленная указанным путем случайная ошибка включает лишь ошибки, связанные с неоднородностью пробы, с вариациями условий возбуждения, с неоднородностью фотопластинки и нестандартностью условий ее проявления, а также с нестабильностью условий фотометрирования. Существенный источник случайных ошибок, обусловленный вариациями положения градуировочного графика на плоскости координат ( из-за неоднородности материала эталонных образцов, вносящей случайную ошибку; из-за ошибок в определении почернений линий в спектрах эталонов; из-за оставшегося неучтенным дрейфа - кривых при работе по методу твердого графика), а также ошибками в снятии отсчета с графика, остается при этом вне контроля.  [16]

17 Характеристика неоднородности отложений и масел. [17]

Для удобства расчетов и сравнения различных проб друг с другом введено понятие удельный коэффициент неоднородности пробы Wy, который представляет собой коэффициент вариации концентрации определяемых примесей вследствие неравномерного их распределения в пробе массой 1 г. Коэффициент неоднородности для Q г пробы WWy / - VQ.  [18]

В спектральных методах анализа источниками как случайных, так и систематических погрешностей могут быть: неоднородность пробы, потери определяемых элементов при подготовке вещества к анализу, а также в процессе его анализа, нестабильность работы источников атомизации и возбуждения.  [19]

Внутренний стандарт должен быть распределен в образцах равномерно, чтобы не вводить дополнительных погрешностей из-за неоднородности проб.  [20]

Заметим, что мы совершенно не рассматривали изменения в интенсивности аналитических линий, связанные с неоднородностью проб. Очевидно, что при анализе неоднородных проб пет смысла добиваться увеличения точности измерений, например, путем увеличения фотометрируемой площади, а нужно проводить усреднение, измеряя, хотя бы с небольшой точностью, спектры большого числа проб.  [21]

Случайные ошибки спектрального анализа можно разделить на три группы: 1) ошибки, связанные с неоднородностью проб и эталонов; 2) с возбуждением спектра; 3) с методом регистрации.  [22]

Малая проницаемость рентгеновских лучей в толщу анализируемого образца ( всего на 10 - 100 мк), что может приводить к погрешностям, связанным с неоднородностью пробы.  [23]

Малая проницаемость рентгеновских лучей в толщу анализируемого образца ( всего на 10 - 100 мк), что может приводить к погрешностям, связанным с неоднородностью пробы.  [24]

Каждое значение А /, определяется величиной с, значениями уровней известных L влияющих факторов методики при каждом / - м анализе, а также неоднородностью пробы, погрешностями синтеза образцов для градуирования, дрейфом градуировочной характеристики.  [25]

Значение случайной составляющей погрешности Л / любого / - го результата анализа i - й фиксированной пробы определяется содержанием ct определяемого компонента пробы, значениями уровнен влияющих факторов методики и неоднородностью пробы.  [26]

Если нужно произвести сравнительное изучение работы нескольких спектральных лабораторий, то отобранный для этой цели образец заставляют циркулировать по разным лабораториям так, чтобы в каждой из них он побывал по нескольку раз; при таком планировании эксперимента неоднородность пробы становится случайной величиной и учитывается при статистическом анализе как составная часть внутрилабораторной воспроизводимости.  [27]

Бывает, что случайные колебания характеристик качества обусловливаются не одной лишь случайной ошибкой метода измерения и анализа. Неоднородность проб иди, например, пробоотбора, часто может оказаться довольно заметной. О возможных диапазонах качества рассматриваемого продукта можно правильно судить, лишь если стандартное отклонение а учитывает все эти причины ошибок.  [28]

Переход к фотоэлектрическим методам устраняет третью из указанных ошибок; фотометрическая ошибка фотоэлектрического прибора обычно невелика и достигает всего лишь 0 5 % от определяемой величины. Основной ошибкой является ошибка неоднородности пробы и ва1 риации в условиях возбуждения.  [29]

При большом размере пробы нужно на валовой анализ отобрать представительную навеску. Сделать это довольно трудно ввиду неоднородности пробы. Здесь, помимо тщательного перемешивания пробы, следует рекомендовать отбирать большие навески с тем, чтобы уменьшить вероятность отклонения состава навески от среднего состава пробы.  [30]



Страницы:      1    2    3    4