Несовершенство - решетка
Cтраница 1
Несовершенства решетки в оптическом анализаторе спектра составляют наиболее существенную часть интересующей нас информации, которая регистрируется на фотопленке, например, с помощью катодно-лучевой трубки. Примером сигналов, регистрируемых и анализируемых таким способом, могут служить сейсмограммы колебаний почвы. [1]
Несовершенства решетки кристаллов делятся на три основных вида [14]: 1) точечные несовершенства, к которым относятся вакансии и внедренные атомы; 2) линейные несовершенства или дислокации, охватывающие ряд последовательных атомных плоскостей; 3) поверхностные несовершенства, представляющие собой границы зерен, блоков, поверхности между фазами и свободные поверхности. [2]
 |
Линейная дислокация. [3] |
Важными несовершенствами решетки являются дислокации. Различают линейные ( краевые) и винтовые ( спиральные) дислокации. [4]
Эти несовершенства решетки были названы дислокациями, а понятие подвижности дислокаций явилось тем недостающим звеном, которое в конце концов поставило теорию дислокаций над всеми предшествующими теориями. [5]
Искажения или несовершенства решетки обычно располагаются вблизи плоскостей сдвига, возникающих при деформировании металла. Об этом свидетельствует ослабление отношения интегральных мощностей интерференционных линий на рентгенограммах образцов сталей 25 и 12Х18Н9Т после испытания. Размеры блоков структурной мозаики и угол их дезориентировки изменяются в зависимости от продолжительности микроударного воздействия. Наиболее интенсивно блоки измельчаются в самом начале испытания. [7]
Определение размеров кристаллитов и исследование несовершенств решетки представляют большой интерес при изучении ряда неорганических объектов, в частности катализаторов. [8]
 |
Схема для осуществления спектрального анализа. [9] |
Исчерпывающее теоретическое рассмотрение соотношений между несовершенствами решетки и спектральной дифракционной картиной было дано в работе [9] в форме, непосредственно применимой к анализу спектра, производимому в анализаторах спектра. Джексон [10] недавно рассмотрел эту проблему в конкретном применении к дифракционному методу обработки геофизических данных. [10]
В этом случае рассмотренные выше схемы-модели осложняются несовершенствами решетки кристаллитов и наличием посторонних атомов на периферии структурных агрегатов, составляющих поликристаллический графит. Атомы водорода, кислорода, азота, рассматриваемые как посторонние в решетке графита, имеют стремление улетучиваться при нагревании, что может быть связано с наблюдаемым падением электросопротивления в области температур максимальной скорости их удаления. В образцах, прокаленных при высокой температуре, практически уже не остается посторонних атомов, и, следовательно, излишек свободных электронов, обусловливающих электропроводность, создается только углеродными атомами. [11]
По этой модели грань спайности представляется как сочетание многочисленных несовершенств решетки со строгой структурой. При вязком скольжении зерен должно произойти смещение одного дефекта структуры относительно другого и перераспределение атомов, для чего, очевидно, необходима энергия активации. [12]
Как мы установили выше, для взаимодействия электронов с несовершенствами решетки характерны упругие столкновения, что учитывается законом сохранения энергии: ftzk2 / 2m йг / г 2 / 2т Пач (6.28), где k - волновой вектор электрона до рассеяния; k - после рассеяния. [13]
Как мы установили выше, для взаимодействия электронов с несовершенствами решетки характерны упругие столкновения, что учитывается законом сохранения энергии: ftzk2 / 2m йг / г 2 / 2т Пач (6.28), где k - волновой вектор электрона до рассеяния; k - после рассеяния. [14]
 |
Схема краевой дислокации. [ IMAGE ] Схема винтовой дислокации. [15] |
Страницы: 1 2 3 4