Зависимость - интенсивность - линия - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Человеку любой эпохи интересно: "А сколько Иуда получил на наши деньги?" Законы Мерфи (еще...)

Зависимость - интенсивность - линия

Cтраница 1


1 Виды газоразрядных трубок, [ IMAGE ] Ступенчатое ( J применяемых для анализа газовых сме - и прямое ( 2 возбужде-сей. ние. [1]

Зависимость интенсивности линии от давления газа изучена далеко не для всех разрядов достаточно хорошо. Теоретически рассчитать эту зависимость очень трудно, поэтому ее находят экспериментально, подбирая оптимальные условия возбуждения. С увеличением давления одновременно растет концентрация атомов и концентрация ионов. Поэтому чаще совершаются как упругие, так и неупругие столкновения. Увеличение числа неупругих столкновений должно способствовать повышению интенсивности линий, но неупругие столкновения снижают температуру электронов, что способствует уменьшению интенсивности линий.  [2]

3 Зависимость интенсивности LO. I -линии серебра / от квадрата напряжения на трубке - ( по Иопссоиу. [3]

Зависимость интенсивности линий от напряжения в области относительно небольших напряжений, меньших чем утроенное значение потенциала возбуждения, имеет особенно простой вид.  [4]

Зависимость интенсивности линий флуоресценции от различных факторов становится еще сложнее, чем в предыдущем случае.  [5]

6 Вид функции Ф ( те. а в интервале т от 0 до 15. б в интервале тг от 0 до 2. [6]

Рассмотрим зависимость интенсивности линий от концентрации электронов при наличии ступенчатых возбуждений.  [7]

Из зависимости интенсивности линий ионов от ионизирующего напряжения были определены потенциалы появления основных ионов в масс-спектрах.  [8]

9 Кривые почернения. [9]

Используя зависимость интенсивности линий фотоэлектронного спектра от угла а, определяют изменения состава образца по глубине до 10 нм без его разрушения.  [10]

11 Схема рентгеновского спектрометра. 1-рентгеновская трубка. 1а - источник электронов ( термоэмисснонный катод. 16-мишеаь ( анрд. 2 - исследуемое в-во. 3-кристалл-анализатор. 4-регистрирующее устройство. / п - первичное рентгеновское излучение. Ау2 - вторично рентгеновское излучение. АУЗ-регистрируемое излучение. [11]

На зависимости интенсивности линии рентгеновского эмиссионного спектра от концентрации соответствующего элемента основан рентгеновский флуоресцентный анализ ( РФА), к-рый широко используют для количеств, анализа разл. При этом используют вторичное излучение, т.к. первичный способ возбуждения спектров наряду с разложением в-ва приводит к плохой воспроизводимости результатов. РФА отличается экспрессностью и высокой степенью автоматизации.  [12]

13 Калибровочный график для определения хрома в сталях.| Пример ели. [13]

Характер зависимости интенсивности линии от концентрации элемента в пробе определяется также условиями его испарения из исследуемых сплавов.  [14]

Исследование зависимости интенсивности линий от толщины пробы имеет большое значение для оценки эффектов поглощения. Если очень тонкая пленка, состоящая из одного элемента, облучается полихроматическим рентгеновским пучком, то ( если пленка достаточно тонкая) наблюдается очень небольшое изменение интенсивности первичного и вторичного характеристических лучей. В этих условиях интенсивность характеристического излучения пропорциональна числу излучающих атомов и, следовательно, толщине пленки.  [15]



Страницы:      1    2    3    4    5