Катастрофический отказ

Cтраница 3

Наиболее частой причиной катастрофических отказов является неправильная эксплуатация диодов. Так, например, даже очень кратковременные импульсы токов и напряжений, превышающие допустимые значения, могут привести к необратимому пробою р-д-перехода диода в связи с тем, что пробой часто происходит по неоднородностям в p - n - переходе. При этом плотности тока в отдельных частях р-я-перехода могут оказаться недопустимо большими, произойдет шнурование тока с резким увеличением удельной мощности, выделяющейся в шнуре. Подобные эффекты возможны в полупроводниковых диодах даже при прохождении коротких импульсов тока с амплитудой, не превышающей допустимого значения постоянного тока. [31]

Наиболее частой причиной катастрофических отказов является неправильная эксплуатация диодов. Так, даже очень кратковременные импульсы токов и напряжений, превышающие допустимые значения, могут привести к необратимому пробою р-п-пере-хода диода в связи с тем, что пробой часто происходит по неод-нородностям в р-и-переходе. При этом плотности тока в отдельных частях р-я-перехода могут оказаться недопустимо большими, произойдет шнурование тока с резким увеличением удельной мощности, выделяющейся в шнуре. Подобные эффекты возможны в полупроводниковых диодах даже при прохождении коротких импульсов тока с амплитудой, не превышающей допустимого значения постоянного тока. [32]

Среди встречающихся случаев катастрофических отказов транзисторов в электронной аппаратуре большинство не представляет научного интереса и связано с ошибками в схемах или с использованием транзисторов в режимах недопустимых перегрузок. Эти нетривиальные случаи отказов связаны с особенностями процессов, происходящих на поверхности и в объеме полупроводников, оказывающих существенное влияние на электрические свойства приборов. [33]

Что понимается под катастрофическими отказами и что под постепенными. [34]

Какие процессы являются причиной катастрофических отказов. [35]

Как показал опыт работы, катастрофические отказы могут быть вызваны также нарушениями режимов вплав-ления электродов и отклонениями от нормальной технологии, допущенными при обработке кристаллов. Так, у отдельных транзисторов П101 - П103 при термоцикли-ровании и работе в условиях отрицательных температур наблюдалось появление микротрещин в области эмиттер-ного перехода, вследствие чего резко увеличивался неуправляемый обратный ток эмиттерного перехода / Эбо - Подобные же дефекты, а также понижение пробивного напряжения при охлаждении германиевых транзисторов П210 являлись следствием микротрещин в области базы и были обусловлены различием температурных коэффициентов расширения германия и электродных материалов. [36]

Трещины, особенно сквозные, наиболее катастрофический отказ оболочки реактора. Их появление может привести к трагическим последствиям. [37]

Конструктивные недостатки, приводящие к катастрофическим отказам, могут проявляться из-за различия коэффициентов теплового расширения материалов сочленяющихся элементов приборов, что приводит к механическим нарушениям различного вида контактов, растрескиванию кристаллов полупроводников, баллонов ламп. Это наиболее заметно проявляется в мощных приборах. Чтобы не допустить таких дефектов, применяют термокомпенсирую-щие прокладки между элементами конструкции. [38]

Предположим, что событие S означает катастрофический отказ системы. [39]

РВС в случае, если произошел аварийный катастрофический отказ, после которого восстановление РВС невозможно или экономически нецелесообразно. [40]

Зависимость приведенной жен производиться с учетом требований удельной мощности ИВЭП от его КПД. [41]

Основными причинами отказов ИВЭП являются не только катастрофические отказы элементов, но также неправильно заданные требования к качеству входных ( питающих) и выходных напряжений, ошибки, допущенные при выборе схемы и при проектировании отдельных узлов, некачественное изготовление ИВЭП и неправильная эксплуатация. [42]

Технический контроль деталей на их подверженность катастрофическому отказу также несложен. Так, качество спаев можно проверить при установке деталей или в собранных приборах на вибраторе, причем суточной проверки бывает для этого более чем достаточно. [43]

Классификация отказов технического объекта. [44]

Среди всех отказов выделяют особо опасные - катастрофические отказы, наступление которых создает угрозу для жизни и здоровья людей, а также для окружающей среды, или приводит к тяжелым экономическим потерям. Остальные, некатастрофические отказы в свою очередь подразделяют на критические и некритические. К критическим отказам, в частности, относятся такие, возникновение которых приводит к невыполнению ответственного задания. [45]

Страницы: 1 2 3 4