Cтраница 4
Надежность интегральных микросхем определяется в основном интенсивностью катастрофических отказов. Среди последних наибольший удельный вес имеют отказы схем из-за некачественных соединений. Преобладание на данной стадии развития интегральной микроэлектроники катастрофических отказов ад постепенными позволяет Считать реальным дальнейшее повышение надежности микросхем в ближайшие годы. [46]
Кратко остановимся на некоторых распространенных в практике видах катастрофических отказов и их причинах. [47]
Таким образом, надежность ИС определяется в основном интенсивностью катастрофических отказов. Среди последних наибольший удельный вес имеют отказы схем из-за некачественных соединений. Преобладание на данной стадии развития интегральной микроэлектроники катастрофических отказов над постепенными позволяет считать реальным дальнейшее повышение надежности ИС. Отработка технологических операций, усовершенствование корпусной защиты, автоматизация производственных процессов и совершенствование системы контроля качества выпускаемой продукции дают возможность ликвидировать основные источники катастрофических отказов и практически полностью исключить отказы, что в свою очередь обеспечит дальнейшее повышение надежности ЭВМ. [48]
Какие схемные мероприятия следует предусматривать, чтобы исключить или уменьшить катастрофические отказы полупроводниковых приборов. [49]
Эксплуатационная надежность элементов конструкций при этом резко снижается, а опасность возникновения катастрофических отказов возрастает. [50]
Второй путь также неприемлем, так как он приведет к увеличению доли катастрофических отказов, что связано не только с серьезными экономическими и экологическими последствиями, но и с риском для жизни обслуживающего персонала. [51]