Перенос - дырка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Пойду посплю перед сном. Законы Мерфи (еще...)

Перенос - дырка

Cтраница 1


Перенос дырок через пластинку, очевидно, не будет различным для обоих барьеров. Было установлено, что эта величина остается неизменной при изменении температуры от 15 до 60 С, концентрации КОН от 0 01 до 10 %, удельном сопротивлении материала электронной проводимости от 0 2 до 6 ом см, световых токах от 0 1 до 1 0 ма / см2 и для 0 1 N раствора сульфата индия.  [1]

Коэффициент ап переноса дырок через базы, естественно, зависит от соотношения ширины базы и диффузионной длины.  [2]

Аналогично протекают процессы переноса дырок. В дырочных полупроводниках холодный спай приобретает положительный потенциал по отношению к горячему. Очевидно, что наибольшую термоЭДС можно получить при комбинировании термоэлектродов из электронного и дырочного полупроводников. Эта термоЭДС достигает 1 мВ / К, что в десятки и сотни раз больше, чем в металлах.  [3]

Совпадение значений подвижности при дисперсионном переносе дырок в пленках TP-a - Si: H [123] и PP-a - Si: H [124] свидетельствует о том, что процесс гидрогенизации a - Si не приводит к однозначному снижению плотности локализованных состояний вблизи потолка валентной зоны, а обусловливает существование сильных флуктуации концентрации водорода. Влияние таких флуктуации на свойства переноса в a - Si: H обсуждается в следующем разделе.  [4]

5 Координатные зависимости в диоде Шокли концентраций носителей заряда при отсутствии смещения ( сплошные линии и прямом напряжении смещения V - 0 5 В ( штриховые линии ( а, а также координатные зависимости плотностей токов при V 0 5 В ( б. [5]

Аналогичным способом описывается диффузионный процесс переноса дырок в квазинейтральной и - области.  [6]

У, рП1 и РР2 - коэффициенты переноса дырок через базу п и электронов через базу р2, зависящие от эффективных толщин этих баз.  [7]

Из известных авторам литературных источников следует, что перенос дырок в пленках TP-a - Si: H является всегда дисперсионным.  [8]

Первый член правой части соотношения (3.20) описывает механизм переноса дырок под действием поля краевого эффекта, второй член определяет составляющую плотности дырочного тока, возникающую под действием так называемого самоиндуцированного дрейфа, а третий член - диффузионную составляющую плотности тока.  [9]

Первое слагаемое правой части соотношения (3.36) описывает механизм переноса дырок под действием поля краевого эффекта, второе определяет составляющую плотности дырочного тока, возникающую под действием так называемого самоиндуцированного дрейфа, а третье - диффузионную составляющую плотности тока.  [10]

11 Подача рабочих смещений на транзисторы р-п - р и п-р - п.| Распределение токов в транзисторе р-п - р. [11]

На составляющую коллекторного тока / кр, обусловленную переносом дырок от эмиттера, накладывается обратный ток коллекторного перехода / о, ибо этот переход смещен в обратном направлении.  [12]

Влияние рекомбинации в базе на величину коллекторного тока учитывается коэффициентом переноса дырок ] 5 / к.  [13]

Хорошее совпадение найденных и вычисленных данных подтверждает предложенный механизм влияния нафтацена на перенос дырок.  [14]

15 Дрейф слоя носителей ( в данном случае дырок через образец диэлектрика, иллюстрирующий принцип, лежащий в основе измерений дрейфовой подвижности в высокоомных образцах. Условия применимости метода. [15]



Страницы:      1    2    3    4