Поликристаллическая пленка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
Женщины обращают внимание не на красивых мужчин, а на мужчин с красивыми женщинами. Законы Мерфи (еще...)

Поликристаллическая пленка

Cтраница 4


Активный слой выполняется в виде монокристаллических или поликристаллических пленок и таблеток. Промышленностью освоены способы получения пленок напылением в вакууме и осаждением из суспензий.  [46]

Менее важную роль играет исследование полностью неориентированных поликристаллических пленок, дающих дебаевские кольца равномерной интен сивности при расположении образца как перпендикулярно, так и наклонно по отношению к электронному пучку. Это объясняется тем, что, во-первых, такие случаи встречаются редко, и, во-вторых, тем, что использование электро-нографических методов для исследования указанного типа образцов не дает никаких преимуществ по сравнению с рентгенографическим анализом.  [47]

Вольский и др. [221] изучили лишь характеристики поликристаллических пленок, полученных на кварцевых подложках. Как и у вакуумных конденсатов, концентрация носителей в пленках изменяется от 54017 до 3 - Ю18 см-3, а их подвижность от 25 до 190 см / в-сек. Пленки обычно обладают р-проводимостью.  [48]

49 Схематическое изображение поликристаллической пленки, напыленной при высокой температуре. [49]

Несомненно, однако, что на поверхности поликристаллических пленок толщиной 100 - 200 нм, напыленных при низкой температуре, присутствует значительное количество высокоиндексных граней, и это тем вероятнее, чем более тугоплавок металл. Следовательно, на поверхности имеются высокоиндексные грани, для которых характерна пониженная работа выхода.  [50]

Установки для осаждения тугоплавких материалов, наращивания эпитаксиальных и поликристаллических пленок и другие, очень похожи на печи для проведения диффузии.  [51]

52 Температурные зависимости эффективной холловской подвижности носителей fi / / eff в пленках Si, осажденных методом вакуумного испарения, при различных концентрациях легирующей примеси. 1 - 1 1 Ю19 см-3. 2 - 1 8 - 1019 см-3. 3 - 3 6 - Ю19 см-3. около кривых указаны значения энергии активации Ед. [52]

На рис. 3.7 приведены значения показателей преломления аморфных и поликристаллических пленок. Исследование авторами влияния отжига на показатель преломления пленок показало, что заметная кристаллизация происходит в интервале температур от 575 до 690 С На рис 3 7 представлены также спектральные зависимости коэффициента поглощения света в аморфных и поликристаллических кремниевых пленках.  [53]

В основе этой модели лежит представление о тонкой поликристаллической пленке как структуре, которая состоит из микрокристаллитов, разделенных тонкими прослойками вещества с другими свойствами. В результате в микрокристаллите или на его границе с прослойкой образуется р-га-переход или гетеропереход. При приложении электрического смещения ток частично проходит по прослойкам, обходя микрокристаллиты из-за заметного сопротивления возникших барьеров.  [54]

В качестве материала полупроводниковой пленки чаще всего используются поликристаллические пленки сульфида и селенида кадмия, применяются также поликристаллические пленки окиси цинка, антимонида индия, теллурида кадмия, окиси олова, окиси индия, сульфида свинца и теллура. В последнее время появились сообщения о создании триодов подобного типа на монокристаллических пленках кремния, выращенных на кристаллографической плоскости сапфира или на подложках из окиси алюминия, покрытых составом окислов.  [55]

56 Структура ППТ ( а и вольтамперные характеристики триодов в режиме обогащения ( б и обеднения ( я. [56]

Для изготовления пленочной части микроэлектронных схем обычно используют аморфные и поликристаллические пленки.  [57]

После растворения элементного селена, находящегося на поверхности поликристаллических пленок селенида кадмия, в 0 1 М растворе Na2S03 его окисляют до селена ( 1У) и определяют с помощью реакции каталитического восстановления продукта конденсации 2 3-диаминофеназина с глиоксалем.  [58]

Важным инструментом для измерения оптических постоянных и толщины поликристаллических пленок становится спектроскопическая эллипсометрия.  [59]

Некогерентный характер рассеяния и незеркальность отражения и пропускания тонких поликристаллических пленок затрудняют измерения в них оптических характеристик. Данные, получаемые с помощью обычных спектрофотометров, в которых используются приемники с малой апертурой ( примерно / / 10), относятся лишь к зеркальной компоненте пропускания, в то время как в солнечном элементе, для применения в котором предназначена такая пленка, полезный вклад будет также вносить и рассеянный свет.  [60]



Страницы:      1    2    3    4