Cтраница 1
Поверхности эталонов необходимо тщательно отполировать и подвергнуть хромированию во избежание прилипания к ним металла. [1]
Поверхность эталона или парной детали покрывается тонким слоем краски, на нее накладывается обрабатываемая деталь, слегка поджимается и перемещается; при этом выступы окрашиваются краской, образуя пятна. Большое количество мелких пятен, достигаемое после шабровки, характеризует хорошее прилегание детали к эталону или парной детали и, таким образом, служит мерилом точности операции. [2]
Поверхность эталонов и анализируемых образцов, служащих нижним электродом, затачивают на плоскость. Верхний электрод, изготовленный из анализируемой пробы в виде прутка, затачивают на полусферу. Электроды устанавливают в штативе спектральной установки, расстояние между ними контролируют с помощью стеклянного шаблона. [3]
Плоскопечатная типографская машина. [4] |
На поверхность эталона вручную накатывают специальным резиновым валиком типографскую краску ( офсетная № 78), которая ложится ровно по всей поверхности эталона, но не закатывается в углубленные штрихи и знаки. При прокатывании вала 4, обтянутого резиновым полотном, по эталону изображение с эталона переносится на печатный вал в виде черного оттиска краски с незакрашенными штрихами и знаками. При прокатывании печатного вала по детали, расположенной на втором столе, изображение с вала переносится на поверхность детали. [5]
Поскольку величина поверхности эталона определена независимо от этого метода. [7]
Влияние ошибок поверхности эталона разобрано в следующем разделе. Конечные размеры зеркал эталона приводят к виньетированию наклонных пучков, а также к уширению интерференционных полос, вызванному дифракцией на входной диафрагме эталона. Роль дифракции подробно разобрана Ф. А. Королевым [86], который показал, что для всех практически важных случаев этим эффектом можно пренебречь. [8]
Образец с угловым отражателем. 1 - угловой отражатель. 2 - акустическая ось. 3 - искатель. 4 - образец контролируемого металла.| Образец с сегментным отражателем. [9] |
На боковых и рабочей поверхностях эталона должны быть выгравированы риски, проходящие через центр полуокружности. [10]
При настройке между рабочей кромкой инструмента и поверхностью эталона в таких случаях вставляется щуп расчетной толщины. Такого рода эталоны в сочетании со щупами могут использоваться при обработке деталей на разных системах СПИД. Изменением толщины щупов компенсируется разница в величине надлежащих погрешностей динамической настройки разных систем СПИД. [11]
Поверхность изделия сравнивается в цеховых условиях с поверхностью эталонов чистоты или с помощью невооруженного глаза, или же более точно посредством сравнительного микроскопа. На рис. 9, б показана оптическая схема одного из сравнительных микроскопов. Изделие 5 и эталон чистоты 3 располагаются на соответствующих предметных столиках. [12]
Величина а определяется специальными измерениями, причем величина поверхности эталона обычно определяется методами физической адсорбции. Указанное допущение означает, что адсорбционные свойства нанесенного и массивного металла принимаются примерно одинаковыми. Это допущение действительно оправдывается в случаях, когда нанесенный металл имеет кристаллическое строение, причем размеры кристаллов достаточно велики. Если металл на носителе высокодисперсен, более правильным является применение первого способа вычисления s по величине монослоя. [13]
Для поддержания постоянного зазора между призмой искателя и поверхностью эталона к боковым поверхностям призмы приклеивали пластины, выступающие над контактной поверхностью на 0 5 мм. [14]
Класс точности и чнстоты в зависимости от вида обработки. [15] |