Cтраница 2
Класс чистоты поверхности контролируют сравнением поверхности детали с поверхностью эталона соответствующего вида обработки и класса чистоты. [16]
Распределение интенсивностей в прошедшем через эталон ( а и в отраженном ( б свете. [17] |
Результат интерференции этих пучков, распространяющихся в направлении зеркального отражения от поверхностей эталона, может быть получен аналогично тому, как это было сделано для прошедшего через эталон света. Различие между этими слу-чаями заключается в сле-дующем. Для света, прошедшего через эталон, интенсивности всех соседних пучков мало отличаются друг от друга, в отраженном же свете первый пучок существенно превосходит по интенсивности все остальные интерферирующие пучки и выделяется по фазовому сдвигу. [18]
Для того чтобы не затупить инструмент, устанавливают по щупу, закладываемому между поверхностью эталона и режущим лезвием фрезы. [19]
Визуальную оценку шероховатости поверхностей деталей, обработанных отделочными методами, при сравнении их с поверхностями эталонов следует производить с помощью лупы с пятикратным или большим увеличением. [20]
Для того, чтобы не затупить инструмент, его устанавливают по щупу, закладываемому между поверхностью эталона и - режущим лезвием фрезы. [21]
Для того, чтобы не затупить инструмент, его устанавливают по щупу, закладываемому между поверхностью эталона и режущим лезвием фрезы. [22]
Расположение калибра, эталона и стеклянной пластинки при измерении методом интерференции света. [23] |
Интерференционные полосы на поверхности калибра будут направлены параллельно ребру клина; то же будет и на поверхности эталона, только полосы эталона сместятся относительно полос калибра. По величине смещения олределяют доли полосы. Эта величина равна примерно 0 5 полосы, что при белом свете составит 0 3x0 50 15 мк. [24]
Такие устройства служат в большинстве случаев лишь для установления с большой точностью симметричного положения датчика относительно поверхностей эталона длины. Их преимуществом является высокая точность определения симметричного положения поверхностей эталона длины с исключением возможных погрешностей, допускаемых оператором, и возможность получения электрического сигнала для использования при автоматизации координатных перемещений. [25]
На поверхность эталона вручную накатывают специальным резиновым валиком типографскую краску ( офсетная № 78), которая ложится ровно по всей поверхности эталона, но не закатывается в углубленные штрихи и знаки. При прокатывании вала 4, обтянутого резиновым полотном, по эталону изображение с эталона переносится на печатный вал в виде черного оттиска краски с незакрашенными штрихами и знаками. При прокатывании печатного вала по детали, расположенной на втором столе, изображение с вала переносится на поверхность детали. [26]
В инструментальном производстве для контроля шероховатости обработанных поверхностей деталей применяют специальные приборы для точного определения шероховатости; или же сравнивают проверяемую поверхность с поверхностью эталона чистоты. [27]
Измерительный стержень индикатора 8, закрепленного на шпинделе, либо контактный щуп 10 располагают в плоскости 7 / 7 - / / /, чтобы он касался поверхности эталона 9 или приспособления. [28]
В тех случаях, когда можно рассчитать размеры Аа по каждой поверхности, эталон выполняют с размерами, уменьшенными на размер Лд /, и при настройке между инструментом и поверхностью эталона вставляют щуп размером Ащ. Это позволяет один эталон в сочетании с разными щупами использовать при настройке разных систем СПИД. В условиях массового производства, когда один и тот же эталон многократно применяют для настройки системы СПИД, целесообразно для повышения износостойкости его подвергнуть закалке. [29]
Эталонные образцы с никелевыми и медными покрытиями должны отвечать следующим требованиям: 1) абсолютная толщина покрытия должна быть в пределах 15 - 25 мкм; 2) средняя толщина слоя на поверхности всего эталона должна быть известной с точностью 1 5 %; 3) разброс значений толщины покрытия на поверхности эталона не должен превышать 2 % номинального значения. [30]