Поверхность - эталон
Cтраница 3
 |
Прибор для контроля деталей типа колец. [31] |
В качестве эталонов применяют специально изготовленные закаленные детали, поверхности которых копируют контролируемые поверхности. Эти поверхности эталона называются рабочими поверхностями. [32]
 |
Оптическая схема сравнительного. [33] |
Обработанная поверхность детали 4 сравнивается с поверхностью образца-эталона 6 путем их одновременного рассматривания через окуляр 8, поле зрения которого разделено на две половины. Поэтому рядом с изображением поверхности эталона располагается изображение поверхности контролируемой детали. Это осуществляется при помощи призмы 2, которая распределяет лучи света от лампочки / по двум направлениям. [34]
Для получения надежных данных о содержании элемента в сплаве в качестве эталонов следует применять не чистые элементы, а сплавы, близкие по химическому составу к исследуемым. Для исключения ошибок эксперимента подготовку поверхности эталона и исследуемого образца следует вести одинаково. При этом необходимо обеспечить высокое качество поверхности шлифов. Наличие неровностей вследствие недостаточно тщательной полировки шлифа или активного травления может привести к неверным результатам. Поверхность образца, микроструктура которого выявлена тепловым травлением, вследствие образования поверхностных пленок различного состава будет отличаться от состава подложки, что повлияет на результаты анализа. [35]
Для получения более точных данных о содержании элемента в сплаве в качестве эталонов следует применять сплавы, близкие по химическому составу к исследуемым. Для исключения ошибок эксперимента подготовку поверхности эталона и исследуемого образца следует вести одинаково, обеспечивая высокое качество поверхности шлифов. Наличие неровностей шлифа или активного травления может привести к неверным результатам; микроструктура поверхности образца, выявленная тепловым травлением, будет отличаться от состава подложки, что повлияет на результаты анализа. [36]
Такие устройства служат в большинстве случаев лишь для установления с большой точностью симметричного положения датчика относительно поверхностей эталона длины. Их преимуществом является высокая точность определения симметричного положения поверхностей эталона длины с исключением возможных погрешностей, допускаемых оператором, и возможность получения электрического сигнала для использования при автоматизации координатных перемещений. [37]
Возможности дифракции света могут быть использованием я контроля объектов и их поверхностей с примене - - нием эталона объекта. При этом на малом расстоянии от поверхности исследуемого объекта устанавливается поверхность эталона с заранее известной конфигурацией и формой. Зазор между поверхностями образует щель, которая освещается монохроматическим излучением от источника типа лазера. В результате на экране или в плоскости анализа наблюдается дифракционная картина, по виду которой и расположению колец или полос судят о состоянии исследуемой поверхности. Такой способ применим для контроля профиля, плоскостности, ци-линдричности и других геометрических параметров круглых и плоских, подвижных и неподвижных изделий. [38]
Пусть m - порядок интерференции, a 2nLcoscp - оптический путь света в эталоне, расстояние между отражающими поверхностями которого равно L. Эталон освещается пучком света под углом ф к нормали к поверхности эталона. [39]
Такой дефект иногда называют угловым отражателем. Зарубка выполняется так, чтобы отражающая грань ее была перпендикулярна поверхности эталона. Площадь плоскодонного отверстия 8ПЛ связана с эквивалентной площадью зарубки S3ap соотношением, которое зависит от акустических свойств контролируемого изделия и угла призмы. Ниже приведены значения Snn / S3lp для различных углов призмы. [40]
Возможности дифракции света могут быть использованы для контроля объектов и их поверхностей с применением эталона объекта. При этом на малом расстоянии от поверхности исследуемого объекта устанавливается поверхность эталона с заранее известной конфигурацией и формой. Зазор между поверхностями образует щель, которая освещается монохроматическим излучением от источника типа лазера. [41]
Возможности дифракции света могут быть использованы для контроля объектов и их поверхностей с применением эталона объекта. При этом на малом расстоянии от поверхности исследуемого объекта устанавливается поверхность эталона с заранее известной конфигурацией и формой. Зазор между поверхностями образует щель, которая освещается монохроматическим излучением от источника типа лазера. В результате на экране или в плоскости анализа наблюдается дифракционная картина, по виду которой и расположению колец или полос судят о состоянии исследуемой поверхности. [42]
Силовой агрегат установить в положение, соответствующее началу обработки. На шпиндель агрегата установить измерительный прибор, стержень индикатора которого касается поверхности эталона, либо приспособления. [43]
Как видно из рис. 6.6, в результате многократных отражений светового пучка от зеркал эталона Фабри - Перо кроме системы световых пучков, испытавших четное число отражений и распространяющихся в направлении падающего на эталон пучка света, образуется также система пучков, испытавших нечетное число отражений от зеркал. Результат интерференции этих пучков, распространяющихся в направлении зеркального отражения от поверхностей эталона, может быть получен аналогично тому, как это было сделано для прошедшего через эталон света. Различие между этими случаями заключается в следующем. Для света, прошедшего через эталон, интенсивности всех соседних пучков мало отличаются друг от друга, в отраженном же свете первый пучок существенно превосходит по интенсивности все остальные интерферирующие пучки и выделяется по фазовому сдвигу. [44]
Измеряют шероховатость от 3-го до 8-го класса прибором ТСП, для более точного измерения величины неровностей на поверхности древесины применяют микроскоп МИС-11. В производственных условиях шероховатость древесины в большинстве случаев контролируют, сравнивая обработанную поверхность с поверхностью эталонов. Эталоны должны быть изготовлены из древесины той же породы и получены тем же видом обработки, что и сравниваемые детали. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5