Поверхность - эталон
Cтраница 4
В процессе съемки образец вращается. Соотношение интенсивно-стей линий эталона и анализируемой фазы определяется количеством анализируемой фазы в образце, а также временем, в течение которого рентгеновский луч находится соответственно на поверхности эталона ( тэт) и определяемой фазы тоош-тэт. [47]
Проба алюминия для спектрального анализа должна иметь форму прямоугольного бруска такого размера, чтобы его можно было удобно зажимать в электрододержателе. Одну из поверхностей образца затачивают на плоскость напильником, зажимая его при этом в тисках с алюминиевыми прокладками. После заточки поверхность эталонов и образцов протравливают в перегнанной НС1 ( 1: 1) в течение 20 мин. Подставные угольные электроды затачивают на конус и обжигают в дуге переменного тока при 18 а в течение 1 мин. Оба электрододержа-теля должны быть изготовлены из алюминия. [48]
Проба алюминия для спектрального анализа должна иметь форму прямоугольного бруска такого размера, чтобы его можно было удобно зажимать в электрододержателе. Одну из поверхностей образца затачивают на плоскость напильником, зажимая его при этом в тисках с алюминиевыми прокладками. После заточки поверхность эталонов и образцов протравливают в перегнанной НС1 ( 1: 1) fi течение 20 мин. Подставные угольные электроды затачивают на конус и обжигают в дуге переменного тока при 18 а в течение 1 мин. Оба электрододержа-теля должны быть изготовлены из алюминия. [49]
 |
Сравнительный о-а-график изотерм адсорбции азота на силикагелях SiO2 - 8 ( 7, Si02 - 5 ( 2 и Si02 - 3 ( 5. [50] |
Более предпочтительным, на наш взгляд, является прямое сравнение величин адсорбции на пористом образце ( а, моль / г, ось ординат) и непористом эталоне ( а, моль / м2, ось абсцисс) с одинаковой природой поверхности. Такое сравнение не требует никаких допущений о плотности сорбированной фазы. При этом величина поверхности эталона, необходимая для вычисления а, может быть измерена любым методом, что делает определения независимыми от метода БЭТ. [51]
Точечный источник / ( рис. 9.13) тепловой энергии и датчик температуры 2, регистрирующий температуру в точках А и Б, связаны между собой устройством 3 изменения расстояния отстаивания датчика температуры от источника энергии и размещены над эталонным и исследуемым образцами. В качестве источника энергии может быть использован луч лазера. Перемещая точечный источник и датчик температуры с постоянной скоростью вдоль поверхности эталона 4 осуществляют нагрев эталона и регистрацию предельной температуры в точке А. Коэффициент теплопроводности исследуемого образца вычисляют по формуле Яобр Яэт ( Гэт. [52]
При измерениях индикатор устанавливают на заданный размер по отношению к базовой поверхности приспособления или стойки по эталонной детали или блоку концевых мер. Для измерения плюсовых и минусовых отклонений индикатор устанавливают так, чтобы при номинальном значении измеряемого размера стрелка индикатора сделала 1 - 2 полных оборота. После закрепления индикатора в приспособлений или на стойке нулевой штрих шкалы совмещают со стрелкой; измерительный стержень прибора в это время должен касаться поверхности эталона или блока концевых мер. Измеренный размер определяют как алгебраическую сумму размера блока ( эталона) и отклонения стрелки прибора. [53]
 |
Оптическая схема микроскопа сравнения МС-48. / - электролампа, 2 - разделительная призма, 3 - окуляр, 4 - объектив, 5 - эталон, 6, 7 - диафрагма, 8 - контролируемая деталь. [54] |
Контроль шероховатости визуальным методом заключается в рассмотрении поверхности либо невооруженным глазом, либо с помощью лупы или микроскопа путем сравнения обработанной поверхности с рабочим эталоном. Для контроля шероховатости 8, 9 и 10-го классов рекомендуется производить сравнение образца с контролируемой поверхностью в нескольких точках и на различных ее участках. К достоинствам этого способа контроля относятся: наглядность, простота и быстрота проверки, а к недостаткам - субъективность оценки, потребность большого количества эталонов, быстрое изменение поверхности эталонов. При глазном контроле необходимо постоянное освещение, в противном случае отражение света от поверхности детали и эталона может привести к неправильной оценке шероховатости. [55]
 |
Оптическая схема микроскопа сравнения МС-48. / - электролампа, 2 - разделительная призма, 3 - окуляр, 4 - объектив, 5 - эталон, 6, 7 - диафрагма, 8 - контролируемая деталь. [56] |
При оптическом методе применяются микроскопы сравнения. От лампочки / лучи света падают в призму-кубик 2, где разделяются на два направления. Другая часть лучей направляется гипотенузой призмы 2 вниз, проходит диафрагму 7 и, отразившись от контролируемой поверхности детали 8, возвращается в призму 2, проходит через объектив 4 и дает во второй половине окуляра 3 изображение поверхности контролируемой детали 8, расположенной рядом с изображением поверхности эталона. Микроскоп сравнения имеет увеличение в 55 раз и поле зрения 2 8 мм. С помощью микроскопа можно надежно различать шероховатость до 9 - 10 классов включительно. [57]
 |
Плоские сетки на гранях кристалла в структуре алмаза ( а и относительная твердость на них ( б. I - атомы углерода. направление значений твердости. 2 - больших. 3 -меньших. [58] |
В минералах землистого строения составляющие его частицы, слабо связанные между собой, при легком нажвме рассыпаются. Твердость таких минералов определяется шлифованием. Порошок минерала растирают пробкой или пальцем на гладкой поверхности минерала - эталона твердости. Если на поверхности эталона возникает матовое пятно, то твердость испытуемого минерала выше, чем эталона. Выявляя твердость методом царапания, следует отличать царапину от черты. Черту, как правило, дает менее твердый минерал на более твердом. [59]
В минералах землистого строения составляющие их частицы, слабо связанные между собой, при легком нажиме рассыпаются. Твердость таких минералов определяется шлифованием. Порошок минерала растирают пробкой или пальцем на гладкой поверхности минерала - эталона твердости. Если на поверхности эталона возникает матовое пятно, то твердость испытуемого минерала выше, чем эталона. [60]
Страницы: 1 2 3 4 5