Поворот - кристалл
Cтраница 1
Поворот кристалла производится ШД под управлением МУШД. Требуется написать программу управления ШД, осуществляющую поиск этого максимума. Предположим, чю положение кристалла, при котором наблюдается генерация второй гармоники, найдено вручную и направление вращения кристалла к фазовому синхронизму известно. Скорость вращения и число шагов на один элементарный поворот также задаются вручную с помощью переключателей. [1]
Поворот кристалла вокруг вертикальной оси 90, поворот счетчика вокруг вертикальной оси 90, поворот кристалла вокруг горизонтальной оси, параллельной рентгеновскому лучу, 360, поворот кристалла вокруг горизонтальной оси, перпендикулярной рентгеновскому лучу, 3; величина отсчета по нониусам 6; цена деления микрометров 0 01 мм, цена деления индикаторов 0 01 мм; величина сканирования 30 мм, максимальная скорость сканирования 20 мм / час; предельные размеры кристалла - наименьший 20 X 10 X 0 5 мм, наибольший 60 X 20 X 10 мм; питание камеры переменным током 220 в; габаритные размеры 290 х 230 X 260 мм; вес 80 кг. [2]
 |
Расположение рамы и кассеты при съемке лауэ-граммы в камере КФОР. [3] |
После поворота кристалла на 180 наклон 8ц меняет направление и точка Wi смещается на такое же расстояние в противоположную сторону. [4]
 |
Элементарные ячейки кристаллических решеток. а кубическая объемноцент. [5] |
При повороте кристалла относительно некоторой оси на 2я / п можно получить полное повторение картины. Такая ось называется осью симметрии п-го порядка. [6]
При повороте кристалла на 90 поляризованный свет не проходит через кристалл. [7]
При повороте кристалла нарушается условие максимума, и интенсивность рассеянного пучка уменьшается. Но волна с меньшей интенсивностью будет зарегистрирована уже в другом месте фотопластинки, что на рис. 62.8 изображено пунктиром. Тем самым метод качающегося кристалла позволяет не только определить межплоскостные расстояния ( период решетки), но и по характеру распределения интенсивности судить о размерах частиц, расположенных в узлах кристаллической решетки. [8]
 |
Определение идентичных плоскостей в двойнике. [9] |
Задача решается поворотом кристалла в положение, симметричное относительно плоскости двойникования. [10]
Прежде чем производить повороты кристалла по дугам головки, необходимо, естественно, зафиксировать начальную ориентацию кристалла. [11]
Дальнейшие операции - поворот кристалла на угол ф и счетчика - на угол т вокруг вертикальной оси - производятся как обычно. [12]
Очевидно, что поворот кристалла должен изменять распределение цветов рассеянных под определенными углами лучей. К тому же приводят и изменение температуры кристалла и воздействие на него электрического поля. [13]
 |
Рентгенгониометрический метод Де-Ионга - Бумена ( метод фотографирования обратной решетки. а - схема прибора. б - типичная рентгенограмма ( кфорограмма. [14] |
Допустим, что при повороте кристалла на 1 пленка смещается на С мм. Вертикальная координата z пятна характеризует перемещение пленки при повороте кристалла на некоторый угол ф от исходного положения до момента отражения. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5