Cтраница 5
Допустим, что при повороте кристалла на 1 пленка смещается на С мм. Вертикальная координата z пятна характеризует перемещение пленки при повороте кристалла на некоторый угол ф от исходного положения до момента отражения. [61]
Возникновение дифракционного луча для нулевой слоевой линии обратной решетки. [62] |
Если, как это обычно принято, при повороте кристалла на 2 пленка перемещается на 1 мм, то удвоенное значение расстояния между осями в миллиметрах равно углу между этими осями. [63]