Сильно легированный полупроводник - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 3
Нет такой чистой и светлой мысли, которую бы русский человек не смог бы выразить в грязной матерной форме. Законы Мерфи (еще...)

Сильно легированный полупроводник

Cтраница 3


Следовательно, и в случае сильно легированных полупроводников электроны рассеиваются акустическими колебаниями упруго.  [31]

32 Поглощение света примесными центрами. [32]

Как уже упоминалось, в сильно легированных полупроводниках возникает дополнительное поглощение, обусловленное свободными электронами.  [33]

Фотокатоды с отрицательным электронным сродством на основе сильно легированных полупроводников AnlBv / - типа электропроводности обладают более высокой спектральной чувствительностью по сравнению с класт сическими и позволяют сместить порог фотоэффекта в более длинноволновую область.  [34]

Как известно, теоретическая интерпретация данных по сильно легированным полупроводникам чрезвычайно сложна.  [35]

Ом 1 см-х, которая наблюдается в сильно легированных полупроводниках.  [36]

37 Зависимость времени жизни t носителей заряда от положения уровня Ферми при рекомбинации через локальные уровни захвата. [37]

Ферми) показана на рис. 1.17. В случае сильно легированных полупроводников тп и тр не зависят от концентрации носителей заряда и являются величинами постоянными.  [38]

При более низких температурах, а также в сильно легированных полупроводниках преобладающим механизмом рассеяния является рассеяние на примесях и дефектах. Если основное рассеяние происходит на заряженных центрах - донорах или акцепторах, то в невырожденных полупроводниках т растет пропорционально Г3 / 2, так как с увеличением энергии электронов вероятность их рассеяния на таких центрах уменьшается. При рассеянии на нейтральных дефектах время релаксации т не зависит от температуры.  [39]

40 Вольт-амперная характеристика германиевого туннельного диода ГИ304А ( а и германиевого переключательного обращенного диода ГИ403А ( б. [40]

Вследствие этого, а также из-за особенностей энергетических зон сильно легированного полупроводника при обратных и небольших ( около 100 мВ) прямых напряжениях появляется так называемый туннельный ток, объясняемый квантово-механическим туннельным эффектом. При этом эффекте частица ( электрон) способна преодолеть потенциальный барьер, создаваемый встречным электрическим полем области пространственного заряда и превышающий ее кинетическую энергию. В обычных ( слабо легированных) р-п-переходах условия возникновения туннельного эффекта не выполняются, поэтому туннельный ток в них отсутствует.  [41]

Формулу (3.58) можно использовать для определения эффективной массы электрона, сравнивая кривую поглощения сильно легированного полупроводника ( с иавестной концентрацией носителей) с кривой для относительно чистого образца.  [42]

Время жизни tf максимально в собственном полупроводнике и равно времени захвата неосновного носителя заряда в сильно легированном полупроводнике.  [43]

Время жизни ту максимально в собственном полупроводнике и равно времени захвата неосновного носителя заряда в сильно легированном полупроводнике.  [44]

45 Расчетная зависимость коэффициента отражения от частоты в окрестности плазменного минимума. Пунктиром показана кривая с учетом слабого поглощения света ( теория. Спектр отражения n - InSb с различной концентрацией носителей заряда ( эксперимент. [45]



Страницы:      1    2    3    4    5