Cтраница 1
Отраженный поток отклоняется магнитным полем в сторону экрана, покрытого слоем катодолюминофора, и формирует на нем видимое изображение структуры волнового поля. [1]
Отраженный поток собирается с помощью интегрирующей сферы. Интегрирующая сфера может иметь любой диаметр при условии, что суммарная площадь отверстий не превышает 10 % внутренней отражающей поверхности сферы. [2]
Отраженный поток равен падающему, т.е. происходит полное отражение частицы от потенциальной стенки. [3]
Здесь отраженный поток сбрасывается в атмосферный канал и остаточных давлений не возникает. [4]
![]() |
Схема распростране - V с. [5] |
Величина отраженного потока ( по отношению к падающему) зависит от коэффициента пропускания Гп пленки фоторезиста и коэффициента отражения Ru подложки в области поглощения фоторезиста. [6]
Движение отраженных потоков капель в межвенцовых зазорах и вторичное их попадание на РЛ уже при пониженных скоростях соударения - основная причина крутого радиального подъема этой части влаги по лопатке и отбрасывания ее в периферийную зону. В радиальном зазоре над РК создается мощный капельный поток, из которого образуется пленка на торцевых поверхностях и концах лопаток следующего НА. Эта концентрированная влага представляет собой наибольшую опасность для эрозии лопаток следующего РК. [7]
Радиус кривизны отраженного потока должен быть таким, чтобы поток попадал в атмосферный канал. [8]
Измерение диффузно отраженного потока Rd требует более сложных приспособлений, и им часто пренебрегают. Получающаяся отсюда ошибка при определении интенсивности поглощения может быть очень значительной, так как листья наземных растений отражают примерно столько же или даже больше света, сколько и пропускают: именно, от 10 до 15 / 0 белого света, не содержащего инфракрасных лучей ( см. стр. [9]
Предполагая, что отраженный поток жидкости перпендикулярен к оси струи, давления в каналах сопловой головки можно определить, воспользовавшись теоремой об изменении количества движения массы жидкости струи. [10]
Ес - энергия отраженного потока в случае, если газ находится в равновесии с поверхностью и имеет температуру поверхности. При а 1 имеет место наиболее полный обмен энергией. Коэффициент энергетической аккомодации должен зависеть от рода газа, материала и состояния поверхности. [11]
![]() |
Колонна зеркального влектрон-ного микроскопа. [12] |
Для уменьшения апертуры отраженного потока электронов предусмотрена возможность наложения в районе объекта дополнительного осевого магнитного поля. Такое магнитное диафрагмирование [162] повышает светосилу и несколько улучшает разрешающую способность электронного зеркала. Необходимое магнитное поле создается дополнительной катушкой ( 2), которая используется также для подмагничива ния исследуемых образцов. [13]
Соударяясь со струей, отраженные потоки отклоняют ее, устраняя тем самым остаточные давления. [14]
Коэффициентом отражения называется отношение отраженного потока к падающему на поверхность потоку. [15]