Cтраница 2
Однако на распределение скоростей отраженных потоков большое влияние оказывают, помимо гидродинамических характеристик нисходящих струи, и конструкция системы промывки долот. Исследования, проведенные в МИНГ им. [16]
Величина, равная отношению отраженного потока звуковой энергии к падающему потоку звуковой энергии, называется коэффициентом отражения. Величина, равная отношению проходящего потока звуковой энергии к падающему потоку звуковой энергии, называется коэффициентом пропускания. [17]
Это уравнение выражает то, что отраженный поток в трубке длиной Г Д, вызванный входным потоком с, распадается на три составляющие. [18]
Коэффициент использования и дает ту долю отраженного потока, которая попадает на световое отверстие. [19]
Заметим, что при больших значениях т отраженный поток пренебрежимо мал. Интересно, что JhGR может иметь как положительные, так и отрицательные значения в силу одновременно происходящих процессов выпадения и диффузии. [20]
При падающем несером потоке и несерой поверхности отраженный поток будет несерым, за исключением того маловероятного случая, когда величины R и еХпад так меняются в спектре, что их произведение остается постоянным. [21]
Фс - суммарный световой поток, равный отраженному потоку, плюс поток от образца; Фт - поток от образца; Ф0 - поток от стороннего источника, падающий на образец. [22]
Коэффициент отражения R представляет собой отношение плотностей вероятностей отраженного потока частиц к падающему, или, другими словами, отношение квадратов амплитуды отраженной волны к падающей. [23]
Применяют для изготовления деталей, диффузно рассеивающих проходящий или отраженный поток излучения. [24]
Коэффициент зеркального отражения pr, Rr-величина, определяемая отношением зеркально отраженного потока излучения к падающему потоку излучения. [25]
Ар рос - ра - перепад давлений, действующий на отраженный поток; рос - давление в области между струей и стенкой; ра - давление в атмосферном канале. [26]
Коэффициент отражения р, R - величина, определяемая отношением отраженного потока излучения к падающему потоку излучения. [27]
Если менее плотная среда поглощает при длине волны излучения, то отраженный поток будет обладать меньшей энергией, чем падающий, и, измеряя поглощение при разных длинах волн, можно получить спектр поглощения. [28]
Вторичная эмиссия электронов определяется свойствами материала поверхности; их доля в отраженном потоке зависит от потенциального рельефа на поверхности исследуемого изделия, например от обратного напряжения, приложенного к р-п переходам полупроводниковых структур. Изображение, снятое при использовании вторичных электронов, позволяет получить информацию о геометрическом рельефе, распределении потенциала и коэффициенте вторичной эмиссии на исследуемой поверхности. [29]
В электронных микроскопах предметы рассматриваются либо в проходящем; либо в отраженном потоке электронов, поэтому различают просвечивающие и отражательные электронные микроскопы. [30]