Cтраница 4
![]() |
Методы изоляции при расположении источника и приемника с разных сторон от ЗУ. я - энергия поглощается. 6 - энергия отражается. [46] |
Так как при v - 1 коэффициент р - 0, то методы поглощения используют для уменьшения отраженного потока энергии; при этом источник и приемник энергии обычно находятся с одной стороны от ЗУ. [47]
![]() |
Работа просветляющего слоя. [48] |
Точно так же не всегда показатель преломления промежуточной среды - просветляющей пленки - сможет обеспечить точное равенство обоих отраженных потоков, следствием чего явится опять-таки неполное взаимное гашение. [49]
Взяв эту толщину равной четверти длины волны, что при двойном ходе луча делает разность хода между обоими отраженными потоками равной половине длины волны, как это показано на рис. 6.10, получим взаимное гашение обеих отраженных волн. Тогда будет происходить уже не суммирование обоих отраженных потоков, а вычитание, которое при уравнивании абсолютных величин отраженных потоков может теоретически свести потери на отражение к нулю. [50]
Линейные импульсные датчики используют в качестве измерительной шкалы растровые стеклянные или металлические линейки, работающие в проходящем или отраженном потоке света. Типовой датчик ( рис. Х-34) состоит из растровой линейки, неподвижно закрепленной на станине, и шторки ( или индексной линейки), закрепленной на рабочем столе. Пучок света от источника падает на линейку и через шторку с нанесенными на ней штрихами попадает на фотоприемник. Шторка закреплена так, что ее штрихи наклонены на небольшой угол относительно штрихов неподвижной растровой линейки. При относительном перемещении линеек в результате взаимодействия штрихов образуются поперечные интерференционные полосы в виде муаровой сетки, которая используется для съема фотоэлектрического сигнала. Направление перемещений поперечных полос зависит от направления относительного движения растровой линейки и шторки. [51]
![]() |
Характеристики суперортикона ( а и иконоскопа ( б.| Измерение диффузионного коэффициента светорассеяния.| Характеристика плотности почернения фотографической пленки в функции экспозиции. [52] |
Аналогично производятся измерения и в том случае, когда падающий свет является полностью рассеянным и оценивается лишь направленная часть отраженного потока. [53]
![]() |
Зависимость отраженного светового потока Р ( а и отклонения Р ( б от времени экспонирования на различных подложках. [54] |
Следовательно, увеличение отклонения р в процессе экспонирования существенно зависит от увеличения пропускания пленки фоторезиста с ростом экспозиции, вызывающего увеличение отраженного потока, попадающего в экранируемую зону и усиливающего эффект, возникающий за счет дифракции. [55]
![]() |
Зависимость квантового выхода ных таКИМ ОбрЗЗОМ, ЧТО ИЗЛу. [56] |
Возрастание квантового выхода металла с увеличением угла падения не всегда приводит к повышению чувствительности детектора, использующего скользящее падение, так как отраженный поток растет с увеличением угла падения. [57]
Некоторые схемы расчета основаны на том, что первичное распределение потоков находится по индексу, определенному через высоту светильников, распределение же отраженных потоков - по индексу, соответствующему строительной высоте помещения. [58]