Послойный анализ

Cтраница 3

Бенсона [8 ], а в табл. 7.5 - результаты послойного анализа отложений, снятых с поверхности трубы пароперегревателя, поврежденной в результате ванадиевой коррозии. [31]

Распределение серы по сечению антифрикционного слоя нижних вкладышей коренных подшипников. [32]

Для всех вкладышей, получивших укрупнение включений свинца, послойными анализами выявлено глубокое проникновение серы. [33]

Существует несколько типов опытных разработок многочастотных структуроскопов и приборов для послойного анализа. [34]

Схема одновременного ионного травления и получения оже-спектров при послойном анализе состава поверхности образца. [35]

При необходимости исследовать изменение состава образца в зависимости от глубины проводится послойный анализ, который выполняется при совместном использовании ЕСХА и ОЭС или ОЭС с ионным травлением. Послойные спектры ЕСХА получают при последовательном чередовании травления и регистрации спектра. [36]

Если объект представляет собой монолит, то проводят его локальный или послойный анализ без предварительного разрушения. [37]

Для того чтобы установить, покрыта ли поверхность пленкой, делают послойный анализ. Образовавшийся раствор через несколько секунд переносят на часовое стекло и подвергают анализу. [38]

Схематическое изображение лампы тлеющего разряда. 1 - проба. 2 - разрядная ячейка. 3 - кварцевое окно. 4 - ввод газа. 5 - вакуум. [39]

ЛТР могут быть использованы как для объемного, так и для послойного анализа. Использование разрядов постоянного тока позволяет анализировать только проводящие материалы, тогда как более современные радиочастотные разряды ( например, 13 МГц) делают возможным анализ непроводящих материалов. ЛТР получили признание при анализе твердых проб и выпускаются промышленно. [40]

Распределение кониент - браны диффузионные кривые рации бора по глубине кремния бора в кремнии (. Ана-после диффузии из паровой фазы лиз проводился С ПОМОЩЬЮ СКЗ. [41]

Приведенные примеры показывают, что в результаты исследования распределения примесей при послойном анализе может быть внесена значительная систематическая ошибка. [42]

Данные табл. 5.3 могут быть использованы и для оценки чувствительности при послойном анализе других полупроводниковых материалов. [43]

Схема процесса лазерного испарения и ионизации твердых образцов.| Масс-спектры лазерной десорбции. [44]

Последовательное повторение лазерных выстрелов в одно и то же место позволяет проводить послойный анализ образца с величиной шага 0 1 - 0 5 мкм в зависимости от настройки. [45]

Страницы: 1 2 3 4