Послойный анализ

Cтраница 4

В материаловедении чаще всего проводится анализ многокомпонентных газовых смесей, примесей, послойный анализ тонких пленок и поверхностных слоев, локальный элементный и изотопный анализ. Анализ многокомпонентных газовых смесей используют, напр. Этот анализ основан на измерении величин ионного тока, если существует пропорциональность между парциальными давлениями исследуемых компонентов и соответствующими ионными токами. Определение примесей ведется в основном на масс-спектрометрах с искровым источником и основано на сравнении ионного тока определяемого изотопа или элемента с ионным током изотопа, находящегося в излучаемом материале в известной концентрации и используемого в качестве внутреннего эталона. [46]

На основании этого критерия и напряжений, действующих в слое, методом послойного анализа может быть определено состояние материала и коэффициенты безопасности для всех слоев при расчете как по максимальным, так и по предельным нагрузкам. Если конструкция рассчитывается методом конечных элементов, возможна оценка ее прочности по отдельным элементам. [47]

После испытаний проводили весь комплекс перечисленных измерений, а также металлографический анализ, спектральный послойный анализ с применением микропроцессора Спектрокаст - ФРГ, фрак-тографический и рентгена структурный анализ. [48]

Так, например, изучение процессов диффузии в твердых телах было затруднено необходимостью послойных анализов, что, по существу, приводило к разрушению системы. Введение радиоактивного изотопа позволяет непрерывно вести наблюдение за процессом, определяя изменение концентрации во времени измерением радиоактивного излучения. [49]

Ионный зонд можно использовать для определения состава металлических покрытий, а также для послойного анализа тонких полупроводниковых пленок, которые широко используются при изготовлении устройств современной микроэлектроники. При определении очень низких концентраций примесей в тонких пленках следует применять искро-вый зонд. [50]

Хроматографическое разделение смесей радиоактивных веществ или соединений с мечеными радиоактивными атомами также позволяет проводить послойный анализ компонентов смеси непосредственно в колонке. [51]

Так как чувствительность обнаружения примеси повышается при увеличении площади, обрабатываемой вакуумным искровым разрядом, во время послойного анализа желательно использовать по возможности большую поверхность образца. [52]

Факт отложения галогенидов свинца на более холодных поверхностях, а окислов и сульфата свинца - на более нагретых подтверждается послойным анализом нагара. Если при температурах до 500 - 600 С в нагаре еще присутствуют галоидные соединения свинца, то при более высоких температурах он в основном состоит из окислов и оксисульфидов. [53]

Схема прибора. [54]

Хроматографическое разделение смесей радиоактивных веществ и специально синтезированных соединений с одним или несколькими мечеными радиоактивными атомами в молекуле также позволяет производить послойный анализ компонентов смеси непосредственно в колонке. Счетчик у - или достаточно сильного ( 5-излучения, помещенный в свинцовую защиту, передвигается вдоль колонки после того, как произведено хроматографическое разделение изучаемой смеси. При наличии в какой-то зоне колонки радиоактивного вещества счетчик передает соответствующий сигнал на пересчетное или записывающее устройство. [55]

Выполнение двух условий - плоскопараллельностп удаляемых слоев п малой глубины эрозии пробы-необходимо и достаточно для достижения высокого разрешения по глубине ппн послойном анализе на масс-спектрометре с искровым ионным источником. [56]

Во время послойного анализа твердых тел вещество распыляется с относительно большой площади поверхности пробы ( 100 - 300 мм2), поэтому влияние неоднородности распределения примесей на результаты послойного анализа уменьшается. Алюминиевая пленка исключает зависимость УСЛОВИЙ нскрооб-разования от сопротивления пробы. Энергия, выделяющаяся на электродах в момент пробоя вакуумного промежутка, поддерживается постоянной благодаря регулированию межэлектродного зазора. Об этом, в частности, свидетельствует сравнительно высокая стабильность ионного тока. Кроме того, в течение всего эксперимента практически не изменяется местоположение искрового разряда относительно входной щели масс-анализато-ра, поэтому остается постоянным распределение плотности ионного тока по сечению пучка и улучшается точность измерения экспозиции коллектором монитора. [57]

При химической обработке почвы против обитающих в ней насекомых ( личинок щелкунов, хрущей и др.) эффективность учитывают путем взятия почвенных проб на обработанном и контрольном участках с последующим послойным анализом почвы, которую просеивают или от - мывают через сита. Затем подсчитывают всех найденных насекомых и определяют их смертность. Для таких почвенных обследований а каждом участке ( учетном и контрольном) берут в - шахматном порядке по 10 проб в 0 25 м2 каждая на глубину 0 30 м в летний период и 0 5 м в осенний и ранневесенний период. [58]

При химической обработке почвы против обитающих в ней насекомых ( личинок хрущей, щелкунов и др.) техническую эффективность учитывают взятием почвенных проб на обработанном и контрольном участках с последующим послойным анализом почвы, которую просеивают или отмывают через сито. [59]

При химической обработке почвы против обитающих в ней насекомых ( личинок щелкунов, хрущей и др.) эффективность учитывают путем взятия почвенных проб на обработанном и контрольном участках с последующим послойным анализом почвы, которую просеивают или отмывают через сита. Затем подсчитывают всех найденных насекомых и определяют их смертность. Для таких почвенных обследований а каждом участке ( учетном и контрольном) берут в шахматном порядке по 10 проб в 0 25 м2 каждая на глубину 0 30 м в летний период и 0 5 м в осенний и ранневесенний период. [60]

Страницы: 1 2 3 4