Cтраница 1
Стереографические проекции используются для отражения геометрических взаимосвязей между результатами наблюдений и измерениями различных величин. [1]
Стереографическая проекция может быть получена из сферической проектированием каждого полюса на экваториальную плоскость посредством прямой из полюса грани к южному полюсу сферы, как показано на фиг. [2]
Стереографическая проекция углов ногагания алы ита. [3]
Стереографическая проекция углов погасания олпгоклаза. [4]
Стереографические проекции применяются главным образом для изображения элементов симметрии кристалла. [5]
Стереографическая проекция не изменяет величины углов. [6]
Стереографические проекции каждых двух диаметрально противоположных точек окружности Ct представляют собой две точки окружности съ соответствующие одна другой в одной и той же инверсии /, на плоскости, преобразующей окружность cl в самое себя. Чтобы найти на плоскости полюс О последней шшерсии, достаточно найти стереографические проекции двух пар диаметрально противоположных точек и соединить найденные точки попарно между собой. За проекции одной такой пары точек можно принять, очевидно, точки пересечения линии центров окружностей с и с1 с окружностью сг проекции точек другой нары можно найти, построив стереографическую проекцию какого-либо большого круга, пересекающего окружность С: под прямым углом. [7]
Стереографическая проекция сохраняет углы. [8]
Стереографическая проекция является частным случаем инверсии. [9]
![]() |
Направления кристаллографических осей. [10] |
Стереографические проекции 32 видов симметрии, определяющих 32 класса кристаллов, сопоставлены в табл. 1.10. Физические свойства кристаллов сильно зависят от их видов симметрии, см. гл. [11]
Стереографические проекции просты и наглядны. Их наглядность и простота обеспечиваются тем, что плоскости заменяются дугами, а линии - точками. [12]
![]() |
Кристалл с симметрией 3L24L3C3m. [13] |
Стереографические проекции этих линий на рис. 45 совпадают с точками пересечения указанных плоскостей и являются гномостереографическими проекциями рассматриваемых граней. Отражая в горизонтальной плоскости проекции 2i и 22, получим под ними проекции нижних граней. Затем отражениями в вертикальных плоскостях получаем проекции остальных симметричных граней. [14]
Стереографическая проекция позволяет проследить за поворотом кристалла, происходящим во время деформации. [15]