Ионная пучка - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Самая большая проблема в бедности - то, что это отнимает все твое время. Законы Мерфи (еще...)

Ионная пучка

Cтраница 1


Ионные пучки имеют большую плотность объемного заряда по сравнению с электронными пучками при равных значениях плотности тока и ускоряющего напряжения.  [1]

Ионные пучки широко применяют для легирования полупроводников, так как они легко управляются с помощью электрических и магнитных полей.  [2]

3 Схема масс-спектрографа. [3]

Кроме того, ионные пучки в анализаторе фокусируются так, чтобы ионы одной и той же массы, обладающие несколько различающимися энергиями или направлениями движения, попадали в одно и то же место приемного устройства, которым в масс-спектрографе является фотопластинка.  [4]

Полученные в источнике ионные пучки ( сгустки) разделяются в электрических и магнитных полях или по времени пролета.  [5]

6 Ртутный кран с параллельно приключенным к нему капилляром. [6]

В опытах с ионными пучками ( каналовые лучи, масс-спектрограф) в одной и той же разрядной трубке приходится иметь дело с областями разной плотности газа: в пространстве, где происходит разряд, давление порядка 10 - 3 - 10 - 2 мм Hg, в той части трубки, где производятся наблюдения над движением пучков ионов в так называемой закатод-ной части трубки, - возможно высокий вакуум. Разность давлений достигается непрерывной откачкой закатодной части мощным насосом через широкую трубку, в то время как узкая щель, через которую проходят ионные пучки и которая соединяет закатодную часть с остальной частью разрядной трубки, представляет собой большое сопротивление течению газа. В этих случаях нередко заставляют при помощи насоса высокого вакуума одни и те же порции газа непрерывно циркулировать через разрядную трубку. Насос перекачивает газ из области высокого вакуума в область разряда; сообщение с форвакуумом закрыто.  [7]

Синтез и модифицирование ионными пучками висмутовых сверхпроводящих ультратонких пленок описаны в обзоре [28], содержащем 16 ссылок.  [8]

9 Схема масс-спектрометра. 1 - ионный источник. 2 - пучок ионов. 3 - элентрич. поле цн-линдрич. конденсатора. - 1-пучки из разных ионов с одинаковыми энергиями. 5 - сфокусированный пучок ионов с данным mfq. в - магнитное поле. [9]

Регистрировать можно либо одновременно все ионные пучки, выходящие из анализатора ( обычно - фотографич.  [10]

11 ИЭ-спектр, испущенный под углом 42 относительно траектории бомбардирующего пучка протонов с энергиями от 0 5 до 2 5 МэВ от графитовой фольги. Стрелкой указана линия KLL оже-перехода атомов углерода. [11]

В настоящее время обычно используют ионные пучки атомов Н, Не, Аг, Ne в широком интервале энергий. При относительно малых энергиях бомбардирующих ионных пучков ( ЮкэВ) наряду с прямым выбросом электронов из валентных зон облучаемого материала в вакуум большое значение имеют процессы оже-рекомбинации.  [12]

Электризация частично проникающими электронными или ионными пучками проводится в вакууме, причем энергия электронов выбирается таким образом, чтобы, с одной стороны, длина пробега электронов в полимере была значительно меньше толщины пленки, а с другой стороны, чтобы коэффициент вторичной электронной эмиссии - был меньше единицы, ибо только в этом случае заряжаемая поверхность приобретает устойчивый заряд отрицательного знака. Кинетика зарядки полимерных пленок электронным пучком в вакууме также свидетельствует об экспоненциальном возрастании U3 с течением времени зарядки, причем время релаксации i определяется силой тока электронного пучка.  [13]

Электризация частично проникающими электронными или ионными пучками проводится в вакууме, причем энергия электронов выбирается таким образом, чтобы, с одной стороны, длина пробега электронов в полимере была значительно меньше толщины пленки, а с другой стороны, чтобы коэффициент вторичной электронной эмиссии был меньше единицы, ибо только в этом случае заряжаемая поверхность приобретает устойчивый заряд отрицательного знака. Кинетика зарядки полимерных пленок электронным пучком в вакууме также свидетельствует об экспоненциальном возрастании 1 / э с течением времени зарядки, причем время релаксации i определяется силой тока электронного пучка.  [14]

Разработана аппаратура для обработки поверхностей ионными пучками.  [15]



Страницы:      1    2    3    4