Дифракционные пятна

Cтраница 2

Наряду с рефлексами от кристаллов Ag с параллельной ориентацией на электронограммах более толстых конденсатов ( рис. 44, 45) видны дифракционные пятна от двойников. [16]

Схема спектрографии рентгеновских лучей методом широкого пучка.| Схема спектрографии рентгеновских лучей по методу качающегося кристалла. [17]

В таком случае, согласно соотношению Брэгга, лучи разной длины волны отразятся на фотопластинку РР под разными углами, и мы получим на пластинке дифракционные пятна от разных длин волн, т.е. спектр рентгеновского импульса. Метод этот был использован в первых весьма важных работах по спектрографии рентгеновских лучей. В настоящее время он имеет лишь исторический интерес. [18]

В результате отражения от данной серии плоскостей мы получим точку в обратном пространстве, которая может быть легко найдена на рентгенограмме. Дифракционные пятна представляют собой точки сгущения электромагнитной энергии, выражающие результат интерференции рентгеновских лучей. Ясно, что коэффициенты F ( h, / с, /) характеризуются абсолютной величиной, или модулем и фазой. Математически они могут быть представлены как комплексные числа. [19]

Электронограмма хромового покрытия в зависимости от подготовки поверхности медной. [20]

Ориентация поверхностных кристаллов меди вызывает одинаковую ориентацию осаждающихся кристаллов хрома. Электронограмма представляет собой отдельные дифракционные пятна. [21]

В отличие от этого при рекристаллизации дифракционные пятна возникают сразу и увеличиваются в размере до некоторого предела, пока рекристаллизация не заканчивается. [22]

На рис. 5.22 представлена структура поверхности при 0СО уэ, полученная методом дифракции медленных электронов. На рис. 5.22 / J черными точками обозначены дифракционные пятна атомов металла, а белыми точками - дополнительные дифракционные пятна. [23]

Изменение свойств холодподеформированвых образцов никеля ( а и а-железа ( б. / - Взп. 2 - Р2М. 3 - НВ. 4 - ДВД. [24]

О процессах, протекающих при полигонизащш, весьма существенные данные были получены при изучении возврата деформированных монокристаллов. Еще в 1932 г. С. Т. Конобеевский и И. И. Мирер обнаружили, что вытянутые дифракционные пятна на лауэграмме деформированного кристалла каменной соли после нагрева разбиваются на узкие максимумы. [25]

В том случае, когда величина таких областей не превышает - 1000 А в некотором данном направлении, дифракционные пятна для соответствующих нормальных плоскостей становятся диффузными. Это так называемое уширение линий происходит в радиальном направлении от центра плоской пленки. [27]

Представим себе мысленно, что плоская рентгеновская пленка наложена непосредственно на одну из сеток обратной решетки и скреплена с ней, а сетка совершает некоторое движение, при котором она пересекает своими узлами поверхность сферы отражения. Лучи, возникающие в моменты прохождения узлов через поверхность сферы, будут сразу же попадать на пленку, давая дифракционные пятна. Аналогия неполна лишь в том отношении, что негатив и позитив надо перемещать относительно источника, и облучаются узлы не все время, а лишь в те моменты, когда они пересекают поверхность сферы. [28]

Величина г характеризует разрешающую способность линзы. Если центры изображений двух светящихся точек предмета окажутся на расстоянии Д друг от друга, меньшем г, то их дифракционные пятна сольются в одно, как показано на рис. 1.81 а, и никакое дальнейшее повышение увеличения не сможет их разделить. [29]

Величина г характеризует разрешающую способность линзы. Если центры изображений двух светящихся точек предмета окажутся на расстоянии А друг от друга, меньшем г, то их дифракционные пятна сольются в одно, как показано на рис. 1.81 а, и никакое дальнейшее повышение увеличения не сможет их разделить. [30]

Страницы: 1 2 3 4