Дифракционные пятна

Cтраница 3

Так как при вращении кристалла вокруг этого атомного ряда угол между перпендикулярно падающим на него пучком и самим рядом не меняется, то остаются постоянными и растворы конусов. Пересечение этих конусов с рентгеновской пленкой, свернутой цилиндром вокруг оси вращения, дает семейство / окружностей, на которых располагаются дифракционные пятна. На распрямленной пленке пятна оказываются расположенными на параллельных прямых, называемых слоевыми линиями. Как видно из рис. 63 каждая слоевая линия является следом одного из дифракционных конусов. Растворы дифракционных конусов определяются периодом повторения в атомном ряде, идущем по оси конуса. Таким образом, расстояние между слоевыми линиями определяется периодом идентичности кристалла вдоль оси вращения. Расстояние между слоевыми линиями зависит от длины волны рентгеновского излучения: чем короче длина волны, тем меньше это расстояние. [32]

Образование изображения в микроскопа. Pi - плоскость предмета, / - задняя фокальная плоскость объектива, Рг - плоскость, сопряженная с предметной плоскостью. В плоскости Я2 световые пучки сильно перекрываются. [33]

Принципиальной причиной, ограничивающей предел разрешения, является дифракция световых волн. Ограничение пучка лучей краями линз и диафрагм, составляющих оптическую систему, приводит вследствие дифракции к нарушению стигматичности изображения: каждая точка предмета отображается не в точку, а в дифракционное пятно. Дифракционные пятна от близких точек предмета могут перекрываться друг другом, в результате чего они становятся неразличимыми. [34]

Схема получения дифракции рентгеновских лучей по методу Лауэ. [35]

Это ожидание действительно оправдывается. На рис. 72 приведены два примера фотографий, полученных при пропускании света через жидкость ( ксилол), в которой возбуждались три ультразвуковые волны одинакового периода. Дифракционные пятна видны здесь очень хорошо. [36]

Кристаллы исключительно ценны в плане изучения строения молекул. Большое число молекул сводит к минимуму возможность разрушения отдельных молекул под действием рентгеновского излучения. При анализе рентгенограмм выделяют дифракционные пятна и пренебрегают фоном. Фон образуется за счет излучения от поврежденных молекул или же молекул, не находящихся в узлах решетки. [37]

Хансон и Липсон предложили значительное упрощение метода оптической аналогии. Они показали, что удовлетворительный результат можно получить даже если иметь фрагмент структуры, состоящий всего из четырех ячеек. Правда, в результате дифракционные пятна ( узлы обратной решетки) имеют значительно большие размеры, но это не создает особых затруднений. [38]

Если адсорбированные атомы или молекулы занимают те же места в решетке, что и атомы твердого тела, то новые отражения не появляются, но распределение интенсивности изменяется. Если такой электроотрицательный адсорбат, как кислород, остается на поверхности в аморфной форме, то работа выхода увеличивается. Если затем в результате увеличения температуры, давления или времени он входит в состав поверхности путем обмена местами, работа выхода уменьшается и появляются новые дифракционные пятна, указывающие на изменение структуры. Эти и другие поверхностные структуры образуются при экспозициях, слишком малых для образования структур N10 или окиси никеля. При несколько больших экспозициях структура N10 образуется даже при комнатной температуре. Образование обменных и окис-ньтх структур сильно облегчается присутствием дефектов решетки. [39]

В методе Лауэ монокристаллический образец устанавливается в рентгеновской камере неподвижно, каждая система отражающих плоскостей ориентирована под постоянным углом к немонохроматическому пучку рентгеновских лучей. Таким образом, в этом методе угол скольжения 9 имеет ряд постоянных значений ( для различных плоскостей), а длина волны А, ( в полихроматическом пучке) переменна. Из этого пучка дифрагируют те лучи, длины волн которых подчиняются условию Вульфа-Брегга. Дифракционные пятна на лауэграмме располагаются по эллипсам, гиперболам, прямым, проходящим через пятно от первичного пучка; симметрия расположения пятен отражает симметрию кристалла. [40]

Само название обратная решетка вполне понятно. Расстояние каждой точки от центра рентгенограммы, по закону Брэгга, обратно пропорционально расстоянию между соответствующими плоскостями в кристалле. Значит, чем ближе плоскости друг к другу, тем более далекие дифракционные пятна получатся на рентгенограмме. Поэтому пространство, в котором образовалась дифракционная картина, носит название обратного пространства. [41]

Так и для кристаллического вещества нужно знать не только упаковку молекул, но и знать, как построена молекула. Кристалл построен из молекул, которые вполне аккуратно, то есть периодически, заполняют пространство, образуя трех - мерную пространственную решетку. В какой же связи находятся пятна на рентгенограмме ( так называется пластинка, на которой зафиксированы дифракционные пятна) с упаковкой молекул и строением каждой молекулы. [42]

Оптическая фильтрация в электронной микроскопии, а-электронная микрофотография негативно окрашенной уплощенной трубчатой структуры в бактериофаге ( х 200000. б-картина оптической дифракции от а ( кружками обведены дифракционные пятна, связанные со структурой на одной стороне уплощенной трубки. Маска сделана так, что только эти пятна формируют изображение. в-результирующее отфильтрованное изображение, показывающее спиральную структуру из молекул, объединенных в шестигранники. [43]

Такая обработка является обьиной процедурой. Среда рассеивает электроны более эффективно, чем белок, поэтому, заполняя отверстия и щели на поверхности, она подчеркивает ее структуру. Однако трубчатые образцы, подобные указанному, выравниваются при подготовке к электронной микроскопии, и детали изображений задней и передней сторон трубки взаимно налагаются. На рис. 5.14 6 и в можно увидеть, каким образом эти изображения могут быть разделены. Кружками обведены дифракционные пятна, которые можно отождествить со структурой одного определенного ( например, заднего) слоя трубки. Картина, показанная на рис. 5.14 6, была получена с маской, которая пропускает на плоскость изображения лишь составляющую от этих пятен. Размещение отдельных молекул ( в шестигранниках) можно теперь наблюдать более отчетливо. Разумеется, эту работу следует выполнять с особой осторожностью, так как неправильный выбор дифракционных пятен создает ложное изображение. [44]

Стекла в одних отношениях сходны с твердыми веществами, в других - с жидкостями. К стеклам относятся материалы, которые при достаточно низкой температуре, например при комнатной, образуют твердую массу определенной формы, иногда имеющую высокую механическую прочность, большую твердость, низкий коэффициент теплового расширения и характерный кон-коидальный излом. С другой стороны, при более высокой температуре стекла ведут себя как переохлажденные жидкости ( стр. В отличие от кристаллических твердых веществ стекла изотропны ( при отсутствии напряжений) и не плавятся при определенной постоянной температуре, но зато они размягчаются при температуре намного ниже той, при которой происходит свободное течение. Подобно жидкостям они дают лишь немного размытые дифракционные пятна на рентгенограммах в отличие от многочисленных ясно выраженных дифракционных пятен на рентгенограммах кристаллов. [45]

Страницы: 1 2 3 4