Пятно - вещество
Cтраница 1
Пятно вещества смачивают раствором 2 4-динитрофенилгидразина в уксусной кислоте. [1]
Интенсивность окраски пятен вещества измеряют на спектрофотометре Спекорд М-40 с приставкой для отражения с фотометрическим шаром при длине волны 530 нм по отношению к фону. В качестве фона используется участок исследуемой пластинки без вещества. [2]
Интенсивность окраски пятен вещества измеряют на Спе-корде М 40 с приставкой для измерения отражения с фотометрическим шаром при длине волны 540 нм по отношению к поверхности фона. В качестве фона используется участок исследуемой пластинки без вещества. [3]
Интенсивность окраски пятен вещества измеряют на спектрофотометре Спекорд М-40 с приставкой для отражения с фотометрическим шаром при длине волны 600 нм по отношению к фону. В качестве фона используется участок исследуемой пластинки без вещества. [4]
 |
Приспособление для опрыскивания хроматографических пластинок проявляющими реактивами. [5] |
Для прдявления пятен веществ, разделенных на хроматограм мах, применяется несколько приспособлений. В стеклянный колпак, установленный под углом 5 - 10, вносят столик ( высотой 10 см), изготовленный из стеклянных палочек и стеклянной шГа - стинки. На столик помещают пластинку, на которой производилось хроматографиро-вание в тонком слое сорбента. Колпак закрывают стеклом с отверстием 5, через которое вводят кончик пульверизатора, наполненного проявляющим реактивом. [6]
Для обнаружения пятен веществ, обладающих радиоактивным излучением, применяется метод радиоавтографии. После испарения растворителя со слоя к нему плотно прикладывается фоточувствительная пленка или бумага, выдерживается некоторое время и проявляется. Время выдержки определяется чувствительностью-фотоматериала и интенсивностью излучения. После проявления на пленке или бумаге обнаруживаются черные пятна, соответствующие радиоактивным веществам. [7]
 |
Общая схема соединения ГХ и ТСХ. [8] |
Расстояния между пятнами веществ на пластинке для ТСХ линейно зависят от величин соответствующих индексов удерживания. [9]
Оптическую плотность окраски пятен вещества измеряют на спектрофотометре Спекорд М-40 с приставкой для измерения отражения с фотометрическим шаром при длине волны 515 нм по отношению к фону. В качестве фона используется участок исследуемой пластины без вещества. [10]
По окончании хроматографирования пятна веществ на хроматограммах открывают при просмотре в видимом или ультрафиолетовом свете. При необходимости хроматограмму предварительно обрабатывают ( погружением или опрыскиванием) раствором реактива, дающего цветные реакции с хро-матографируемыми веществами. [11]
Между содержанием в пятне вещества и поглощением света этим пятном, окрашенным парами иода, сохраняется линейная зависимость до концентрации 40 мкг. [12]
Флуоресцирующие слои применяют обычно для обнаружения пятен нефлуоресцирующих веществ, способных поглощать лучи УФ-света. [13]
Самым распространенным способом количественной интерпретации результатов анализа является визуальное сравнение пятен веществ в пробе с пятнами эталонных соединений. [14]
Такой способ элюирования подходит только для разделения близких друг другу пятен веществ, для которых может быть точно подобрана скорость вращения. В любом случае точная настройка скорости перемещения слоя осложняется для веществ, пятна которых бесцветны. Камеру, в которую помешается барабан, приходится оснащать кварцевым окошком, через которое можно точно следить за положением пятен веществ, обнаруживаемых при облучении ультрафиолетовым светом, или же величину Rr приходится контролировать отдельно, в сэндвич-камере, при строго идентичных условиях, а соответствующая скорость вращения в таком случае определяется по калибровочному графику. [15]
Страницы: 1 2 3 4