Предельное разрешение

Cтраница 2

Сканирующий электронный микроскоп используется вместе с рентгеновским микроанализатором и имеет предельное разрешение 7 нм и максимальное увеличение 200 000 раз. [16]

Корреляционная функция интенсивности когерентного излучения, рассеянного в четы-реххлористом углероде. [17]

Поскольку при использовании метода счета фотонов нетрудно реализовать большие времена задержек, предельное разрешение интерферометра интенсивности в этом случае может быть лучше 0 1 Гц. [18]

Схемы лазерных аб - / V-VHr. [19]

Это дает перед обычной спектроскопией два главных преимущества: 1) возможность реализации предельного разрешения, определяемого собственным уширением линий поглощения, за счет очень малой ширины аппаратной функции лазерного спектрометра; 2) способность регистрировать слабые линии поглощения вследствие высокой спектральной плотности лазерного излучения. Эти преимущества предопределяют широкие возможности применения лазерных абсорбционных спектрометров в спектроскопии высокого и сверхвысокого разрешения. Использование многоходовых кювет позволяет также проводить контроль микропримесей в газах с помощью лазерных спектрометров. [20]

Растровый электронный микроскоп работает при ускоряющих напряжениях до 30 кВ; при этом достигается предельное разрешение 7 нм в растрово-просвечиваюшем режиме и 10 нм в режиме вторичной электронной эмиссии; увеличение от 7 до 240000 раз. [21]

Растровый электронный микроскоп работает при ускоряющих напряжениях до 60 кВ, при этом достигается предельное разрешение 7 нм в растрово-просвечивающем режиме и 10 нм в режиме вторичной электронной эмиссии. У микроскопа имеются приставки для нагревания до 400 С и деформации образца. Микроскоп может использоваться вместе со спектрометром. [22]

Растровый электронный микроскоп работает при ускоряющих напряжениях до 50 кВ, при этом достигается предельное разрешение 10 нм как при растрово-просвечивающем режиме, так и в режиме электронной эмиссии. Микроскоп имеет телевизионное изображение и может использоваться совместно с рентгеновским мнкроанализатором. [23]

По-видимому, еще более высокими качествами обладают платиноугольные слепки, с помощью которых Брэдли достиг предельного разрешения. Однако пока такие слепки использовались очень ограниченно. [24]

Современные методы электронолитографии позволяют получать разрешение 1 нм, что на 1 5 - 2 порядка превышает предельное разрешение оптических методов. В первом случае используют растровые электронные микроскопы или специализированные электронно-лучевые установки. [25]

Она определяет максимальный размер объектов, которые могут быть успешно сфотографированы методом голографии, и тесно связана с предельным разрешением полученной голограммы. Здесь мы обсудим отдельно два вида когерентности - временную и пространственную. [26]

Для холестерических кристаллов характерны следующие требования: теплоемкость объекта должна превышать теплоемкость пленки; размер измеряемого температурного перепада должен быть больше предельного разрешения кристалла ( обычно диаметром не менее 0 02 мм); скорость изменения температуры должна соответствовать постоянной времени пленки, которая составляет 0 1 с; исследуемая поверхность должна иметь черный цвет. [27]

В теории дифракции получают свое решение и многие вопросы инструментальной оптики, требующие выхода за рамки геометрической оптики, такие, как предельное разрешение оптических систем и спектральных приборов или структура оптического изображения. [28]

Для измерений скорости затухания флуоресценции требуются иные методы вследствие значительно более короткого времени жизни. Предельное разрешение по времени, возможное с помощью механических фосфороскопов, ограничено примерно 10 - 6 сек при максимально достижимой скорости порядка 10 000 о5 / мин. Измерение более короткого времени требует применения безынерционных затворов, основанных на использовании различных электрооптических и магнитооптических эффектов. Наилучшим известным прибором является, по-видимому, ячейка Керра; с нитробензолом время срабатывания составляет примерно 10 - 9 сек. Для работы этого устройства требуется подать электрический импульс напряжением в несколько тысяч вольт. Затвор другого типа основан на создании в кювете, наполненной водой, ультразвуковой стоячей волны. Чередующиеся области высокой и низкой плотности действуют в совокупности подобно быстро перемещающейся дифракционной решетке, модулируя таким образом падающий световой пучок. В этом методе обычно используют фазочувствительный детектор, а время жизни определяют по сдвигу фазы между синусоидально модулированным возбуждающим светом и периодически изменяющейся флуоресценцией. [29]

Таким образом, одному периоду допплеровского смещения частоты fr соответствует перемещение зондируемого объекта на половину длины волны зондирующего излучения. Поэтому предельное разрешение метода по перемещению составляет полдлины волны излучения, однако при соответствующей технике регистрации его можно улучшить еще примерно до Vio этого отрезка. [30]

Страницы: 1 2 3 4