Cтраница 4
При этом диапазон измерения может быть значительным ввиду монотонной зависимости размера определенного максимума дифракционного распределения от размера объекта. [46]
В них используется однозначная зависимость координат точек минимальной интенсивности дифракционного распределения от размера изделия. Положение всех этих точек может быть найдено с помощью фильтра, состоящего из ряда прозрачных щелевых апертур, расположенных по отношению к дифракционному распределению так, что прошедшая интенсивность равна нулю. [47]
Для вычисления эффективности т ] э преобразователя в схеме КВС удобно воспользоваться тем же подходом, что и в случае схемы касательного синхронизма ( см. гл. Определяющим, как и прежде, является то обстоятельство, что пространственное распределение интенсивности излучения cos в области формирования идеального изображения совпадает по форме с дифракционным распределением. [48]
Рассмотрим вторую группу погрешностей. Смещение изделия поперек и вдоль лазерного пучка приводит к изменению длительности временного интервала тт, что связано с изменением оптических аберраций, а также с влиянием неравномерности распределения интенсивности и когерентности в лазерном пучке на дифракционное распределение. [49]
В работе [183] описан другой вариант устройства, позволяющий избавиться от механических перемещений при измерении, что делает его более перспективным. Исследуемое изделие облучают узким пучком, расширенным в направлении геометрической оси изделия. В положении ylt в котором образцовый фильтр подходит к дифракционному распределению интенсивности, за фильтром будет наблюдаться прямая линия нулевой интенсивности. Ось у может быть прокалибрована и таким образом получено однозначное соответствие с измеряемым диаметром изделия. Процесс измерения в этом устройстве может быть визуальным или с помощью электронных средств. В последнем случае в одном из вариантов используется телевизионная камера. Число линий, отсчитываемых от верхней части фильтра, дает величину, пропорциональную размеру щели. В другом варианте устройства осуществляют более сложное преобразование функции в плоскости объекта и получают яркую полосу, расположенную вдоль оси х и соответствующую положению темной муаровой линии на уровне уг. Измерение в этом случае может быть осуществлено рядом фотоэлектрических датчиков. [50]
В каждый электрон оставляет точечный след. Разные электроны попадают в разные места экрана. Однако если электронов достаточно много, то оказывается, что их следы образуют дифракционное распределение, подобное тому, какое получается при прохождении через маленькое отверстие луча света. [51]
Рабочая зеркальная грань обычно более широкая, чем нерабочая. Она играет главную роль в работе решетки. Световая волна дифрагирует на каждом зеркальном элементе шириной а и в отраженном свете дает пространственное дифракционное распределение интенсивности. Дифракционный максимум от каждого зеркального элемента расположен в направлении зеркального отражения луча. В этом же направлении, следовательно, имеет место максимум энергии, отраженной от решетки. При этом положение максимума можно смещать по спектру, изменяя угол i профиля решетки. [52]
Так как увеличение равно J r DijD j то минимальное увеличение, которое рационально применять для полного использования диаметра трубы, определится в зависимости от назначения трубы ( дневные или ночные наблюдения) и размеров объектива. Вредным оказывается также и применение слишком больших увеличений, ибо когда выходной зрачок инструмента становится меньше зрачка глаза, резко уменьшается освещенность изображения на сетчатке. Различение же деталей не улучшится, поскольку с увеличением размеров изображения на сетчатке растет и ширина дифракционного распределения в изображении каждой точки предмета ( ср. [53]
Схема дифракционного измерителя размеров. [54] |
Формирователь пучка 2 используется для получения заданной формы и размера поперечного сечения пучка излучения лазера. Формирователь дифракционного изображения 4 представляет собой объектив, служащий для получения дифракционного изображе-жения, соответствующего дальней зоне. Объект измерения 3 обычно располагают перед объективом, так как тогда дифракционное распределение интенсивности в фокальной плоскости инвариантно относительно смещений изделия. При необходимости осуществить измерения в широком диапазоне изменений размеров нужно иметь набор сменных объективов с различным фокусным расстоянием, чтобы обеспечить необходимый размер дифракционной картины в плоскости регистрации. [55]
Дифракционная картина от щели. [56] |
Действие дифракционной решетки, так же как и интерференционных спектроскопов, сводится к получению интерференции многих колебаний. Поэтому, так же как и там, увеличение числа складываемых колебаний ( в данном случае - числа щелей) приводит к увеличению резкости интерференционной картины. Главные максимумы становятся все уже и выше. Разница состоит лишь в том, что теперь излучение каждого источника не равномерно по всем направлениям, а обладает дифракционным распределением, которое было пояснено в предыдущем параграфе. [57]
Наибольший практический интерес представляют устройства, использующие предварительное преобразование дифракционного распределения в электрический сигнал с последующим его автоматическим анализом и выделением информации о расстоянии между экстремальными точками дифракционного распределения. Такие устройства позволяют повысить точность, быстродействие и автоматизировать процесс измерения. Следует заметить, что из-за многоступенчатого преобразования сигнала в таких устройствах не всегда удается с достаточной точностью расчетным путем связать абсолютное значение измеряемого размера с показаниями оконечного регистрирующего прибора и такие измерители, как правило, нуждаются в предварительной калибровке. В измерителях этого типа чаще всего осуществляют измерение временного интервала, соответствующего расстоянию между выбранными экстремальными точками электрического сигнала, описывающего дифракционное распределение. Ниже приводится описание наиболее перспективных измерительных устройств. [58]